數(shù)字接口測試系列UFS信號完整性測試檢查

來源: 發(fā)布時(shí)間:2025-07-13

UFS 信號完整性的眼圖解讀

眼圖是評估 UFS 信號完整性的有力工具。將高速重復(fù)的 UFS 信號通過示波器采集,疊加顯示,便形成眼圖。眼圖中的 “眼”,開口越大,表明信號質(zhì)量越好。眼高信號的噪聲容限,眼高越高,信號抗噪聲能力越強(qiáng),能承受更大噪聲干擾而不出現(xiàn)誤判;眼寬反映信號的時(shí)間裕量,眼寬越寬,信號在時(shí)序上的容錯(cuò)空間越大,可有效避免因信號延遲、抖動(dòng)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤。比如在 UFS 3.1 標(biāo)準(zhǔn)下,要求眼高≥100mV ,眼寬≥0.7UI 。通過觀察眼圖,工程師能直觀了解 UFS 信號的完整性狀況,快速定位信號存在的問題,進(jìn)而針對性優(yōu)化設(shè)計(jì)。 UFS 信號完整性測試之重要性?數(shù)字接口測試系列UFS信號完整性測試檢查

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UFS 信號完整性測試之量子加密關(guān)聯(lián)

隨著量子加密技術(shù)發(fā)展,UFS 信號完整性測試與之產(chǎn)生關(guān)聯(lián)。量子加密的安全性依賴于量子態(tài)的穩(wěn)定性,而 UFS 信號傳輸質(zhì)量會影響量子加密數(shù)據(jù)的存儲與讀取。若 UFS 信號完整性差,量子加密數(shù)據(jù)在存儲過程中可能發(fā)生錯(cuò)誤,導(dǎo)致失敗。測試時(shí),需在量子加密環(huán)境下評估 UFS 信號。一方面優(yōu)化 UFS 信號傳輸,確保數(shù)據(jù)準(zhǔn)確存儲;另一方面,研究量子加密對 UFS 信號的特殊要求,如對信號噪聲容限的更高標(biāo)準(zhǔn)。保障二者協(xié)同工作,既提升數(shù)據(jù)安全性,又保證 UFS 存儲性能。 夾具測試UFS信號完整性測試信號完整性測試UFS 信號完整性測試之信號完整性與功耗關(guān)系?

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UFS信號完整性測試的重要性UFS(通用閃存存儲)作為高速存儲接口,其信號完整性直接影響數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆€(wěn)定性和可靠性。隨著UFS3.1/4.0速率提升至23.2Gbps,微小的信號失真即可導(dǎo)致嚴(yán)重的誤碼問題。信號完整性測試能確保關(guān)鍵參數(shù)(如眼圖、抖動(dòng)、阻抗匹配)符合JEDEC和MIPI標(biāo)準(zhǔn),避免因信號劣化引發(fā)系統(tǒng)故障或數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。在研發(fā)階段,SI測試可快速定位設(shè)計(jì)缺陷(如走線過長、阻抗失配),優(yōu)化PCB布局,降低后期改版風(fēng)險(xiǎn)。量產(chǎn)階段則通過統(tǒng)計(jì)測試確保生產(chǎn)一致性,提升產(chǎn)品良率。此外,嚴(yán)苛環(huán)境測試(如高溫、振動(dòng))能驗(yàn)證產(chǎn)品的長期可靠性。隨著5G、AI等應(yīng)用對存儲性能要求不斷提高,完善的UFS信號完整性測試已成為保證產(chǎn)品競爭力、降低售后風(fēng)險(xiǎn)的必要手段。通過專業(yè)測試可提升產(chǎn)品穩(wěn)定性和市場接受度,避免因信號問題導(dǎo)致的高昂召回成本。


UFS 信號完整性測試之信號完整性與數(shù)據(jù)加密的關(guān)系

UFS 信號完整性與數(shù)據(jù)加密存在間接關(guān)聯(lián)。數(shù)據(jù)加密增加數(shù)據(jù)復(fù)雜度,對信號傳輸穩(wěn)定性要求更高。若信號完整性差,加密數(shù)據(jù)易出錯(cuò),會失敗。測試時(shí),需在傳輸加密數(shù)據(jù)的場景下評估信號完整性。確保信號能穩(wěn)定傳輸加密數(shù)據(jù),既保障數(shù)據(jù)安全,又保證加密過程順暢,讓 UFS 設(shè)備在安全與性能間達(dá)到平衡。



UFS 信號完整性測試之新興測試技術(shù)應(yīng)用

新興技術(shù)為 UFS 信號完整性測試帶來革新。如人工智能算法可自動(dòng)分析測試數(shù)據(jù),識別潛在信號問題,比人工分析更高效。毫米波探測技術(shù)能非接觸監(jiān)測高速信號,減少測試對信號的干擾。應(yīng)用這些新興技術(shù),能提升測試精度與效率,適應(yīng) UFS 向更高性能發(fā)展的測試需求,推動(dòng)測試技術(shù)不斷進(jìn)步。 UFS 信號完整性測試之信號完整性與產(chǎn)品質(zhì)量?

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UFS 信號完整性之抖動(dòng)影響

抖動(dòng)對 UFS 信號完整性影響明顯。抖動(dòng)指信號的定時(shí)位置在理想位置附近隨機(jī)或周期性變化。在 UFS 數(shù)據(jù)傳輸中,抖動(dòng)會使信號的上升沿和下降沿發(fā)生偏移,造成采樣時(shí)刻不確定性增加。隨機(jī)抖動(dòng)(RJ)具有不可預(yù)測性,由熱噪聲、散粒噪聲等引起;周期抖動(dòng)(PJ)則呈現(xiàn)周期性,多源于時(shí)鐘信號干擾、電源噪聲等。當(dāng)總抖動(dòng)(TJ)過大,超過一定閾值,接收端就可能誤判信號電平,導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸錯(cuò)誤。例如在 UFS 3.1 @11.6Gbps 速率下,要求 TJ<0.3UI ,RJ<0.1UI 。嚴(yán)格控制抖動(dòng),是保障 UFS 信號完整性、實(shí)現(xiàn)高速、準(zhǔn)確數(shù)據(jù)傳輸?shù)年P(guān)鍵任務(wù)。 UFS 信號完整性測試之信號完整性與設(shè)備可靠性?數(shù)字接口測試系列UFS信號完整性測試檢查

UFS 信號完整性測試之信號質(zhì)量評估參數(shù)?數(shù)字接口測試系列UFS信號完整性測試檢查

電源完整性關(guān)聯(lián)VCCQ電源噪聲>50mV會導(dǎo)致眼高下降30%。建議布置10μF+0.1μF去耦組合,PDN阻抗<10mΩ@100MHz。實(shí)測數(shù)據(jù):優(yōu)化前后電源噪聲從85mV降至35mV。6.協(xié)議層影響UniPro鏈路訓(xùn)練時(shí)需監(jiān)測信號穩(wěn)定性,L1→L4切換時(shí)間應(yīng)<100μs。協(xié)議分析儀捕獲到CRC錯(cuò)誤率>1E-12時(shí),往往伴隨信號幅度下降5-10%。7.生產(chǎn)測試方案自動(dòng)化測試系統(tǒng)應(yīng)包含:眼圖掃描(20個(gè)參數(shù))、抖動(dòng)頻譜分析、電源紋波檢測。某產(chǎn)線50片測試數(shù)據(jù)顯示:合格率98.4%,主要失效模式為眼高不足(占比85%)。8.仿真對比實(shí)踐HyperLynx仿真與實(shí)測對比:插入損耗偏差應(yīng)<0.5dB@5.8GHz。某設(shè)計(jì)仿真-2.1dB,實(shí)測-2.4dB,經(jīng)優(yōu)化過孔結(jié)構(gòu)后一致率達(dá)99%。9.材料選擇影響不同PCB板材測試結(jié)果:Megtron6比FR4損耗降低40%@6GHz。高速層建議使用Dk=3.3±0.05的材料,玻纖效應(yīng)導(dǎo)致阻抗波動(dòng)需<±3Ω。10.ESD防護(hù)設(shè)計(jì)TVS二極管結(jié)電容>0.5pF會導(dǎo)致信號邊沿退化。實(shí)測數(shù)據(jù):使用0.3pF器件后,上升時(shí)間從28ps改善至25ps,眼圖寬度增加0.05UI。數(shù)字接口測試系列UFS信號完整性測試檢查