主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
主營(yíng)產(chǎn)品: 相位差測(cè)試|應(yīng)力分布測(cè)試|近眼顯示測(cè)試|偏光膜光軸測(cè)試
快軸慢軸角度測(cè)量對(duì)波片類光學(xué)元件的質(zhì)量控制至關(guān)重要。相位差測(cè)量?jī)x通過旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器法,可以精確確定雙折射材料的快慢軸方位。這種測(cè)試對(duì)VR設(shè)備中使...
目視法應(yīng)力儀的應(yīng)用不僅限于工業(yè)領(lǐng)域,在科研和教學(xué)中也具有重要價(jià)值。在材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)中,學(xué)生可以通過應(yīng)力儀觀察不同材料在受力狀態(tài)下的光學(xué)特性變化...
穆勒矩陣測(cè)試系統(tǒng)通過深入的偏振分析,可以完整表征光學(xué)元件的偏振特性。相位差測(cè)量作為其中的關(guān)鍵參數(shù),反映了樣品的雙折射和旋光特性。這種測(cè)試對(duì)復(fù)...
光程差測(cè)量是相位差測(cè)量?jī)x的另一個(gè)重要的應(yīng)用領(lǐng)域。基于邁克爾遜干涉原理的測(cè)量系統(tǒng)可以檢測(cè)光學(xué)元件表面形貌引起的微小光程差異,分辨率可達(dá)納米級(jí)。...
千宇光學(xué)專注于偏振光學(xué)應(yīng)用、光學(xué)解析、光電探測(cè)器和光學(xué)檢測(cè)儀器的研發(fā)與制造。事業(yè)涵蓋光電材料、光學(xué)顯示、半導(dǎo)體、薄膜透鏡、印刷涂料等行業(yè)。 產(chǎn)品覆蓋LCD、OLED、VR、AR等上中下游各段光學(xué)測(cè)試需求,并于國(guó)內(nèi)率先研發(fā)相位差測(cè)試儀打破國(guó)外設(shè)備壟斷,目前已廣泛應(yīng)用于全國(guó)光學(xué)頭部品牌及其制造商。 千宇光學(xué)研發(fā)中心由光學(xué)博士團(tuán)隊(duì)組成,掌握自主研發(fā)的光學(xué)檢測(cè)技術(shù), 測(cè)試結(jié)果可溯源至國(guó)家計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)。千宇以提供高價(jià)值產(chǎn)品及服務(wù)為發(fā)展原動(dòng)力, 通過持續(xù)輸出高速度、高精度、高穩(wěn)定的光學(xué)檢測(cè)技術(shù),優(yōu)化產(chǎn)品品質(zhì),成為精密光學(xué)產(chǎn)業(yè)有價(jià)值的合作伙伴。