校準PCI-E測試聯(lián)系人

當鏈路速率不斷提升時，給接收端留的信號裕量會越來越小。比如PCIe4.0的規(guī)范中 定義，信號經(jīng)過物理鏈路傳輸?shù)竭_接收端，并經(jīng)均衡器調(diào)整以后的小眼高允許15mV,  小眼寬允許18.75ps,而PCIe5.0規(guī)范中允許的接收端小眼寬更是不到10ps。在這么小  的鏈路裕量下，必須仔細調(diào)整預加重和均衡器的設置才能得到比較好的誤碼率結(jié)果。但是，預  加重和均衡器的組合也越來越多。比如PCIe4.0中發(fā)送端有11種Preset(預加重的預設模  式),而接收端的均衡器允許CTLE在-6～ - 12dB范圍內(nèi)以1dB的分辨率調(diào)整，并且允許  2階DFE分別在±30mV和±20mV范圍內(nèi)調(diào)整。綜合考慮以上因素，實際情況下的預加  重和均衡器參數(shù)的組合可以達幾千種。3090Ti 始發(fā)支持 PCIe5.0 顯卡供電接口怎么樣？校準PCI-E測試聯(lián)系人

PCIe5.0物理層技術(shù)PCI-SIG組織于2019年發(fā)布了針對PCIe5.0芯片設計的Base規(guī)范，針對板卡設計的CEM規(guī)范也在2021年制定完成，同時支持PCIe5.0的服務器產(chǎn)品也在2021年開始上市發(fā)布。對于PCIe5.0測試來說，其鏈路的拓撲模型與PCIe4.0類似，但數(shù)據(jù)速率從PCIe4.0的16Gbps提升到了32Gbps,因此鏈路上封裝、PCB、連接器的損耗更大，整個鏈路的損耗達到 - 36dB@16GHz,其中系統(tǒng)板損耗為 - 27dB,插卡的損耗為 - 9dB。.20是PCIe5 . 0的 鏈路損耗預算的模型。校準PCI-E測試聯(lián)系人PCIE物理層鏈路一致性測試狀態(tài)設計；

這個軟件以圖形化的界面指導用戶完 成設置、連接和測試過程，除了可以自動進行示波器測量參數(shù)設置以及生成報告外，還提供 了Swing、Common Mode等更多測試項目，提高了測試的效率和覆蓋率。自動測試軟件使 用的是與SigTest軟件完全一樣的分析算法，從而可以保證分析結(jié)果的一致性。圖4.15是 PCIe4.0自動測試軟件的設置界面。

主板和插卡的測試項目針對的是系統(tǒng)設備廠商，需要使用PCI-SIG的測試夾具測 試，遵循的是CEM的規(guī)范。而對于設計PCIe芯片的廠商來說，其芯片本身的性能首先要 滿足的是Base的規(guī)范，并且需要自己設計針對芯片的測試板。16是一個典型的PCIe 芯片的測試板，測試板上需要通過扇出通道(Breakout Channel)把被測信號引出并轉(zhuǎn)換成 同軸接口直接連接測試儀器。扇出通道的典型長度小于6英寸，對于16Gbps信號的插損 控制在4dB以內(nèi)。為了測試中可以對扇出通道的影響進行評估或者去嵌入，測試板上還應 設計和扇出通道疊層設計、布線方式盡量一致的復制通道(Replica Channel),復制通道和扇 出通道的區(qū)別是兩端都設計成同軸連接方式，這樣可以通過對復制通道直接進行測試 推測扇出通道的特性。

Cle4.0測試的CBB4和CLB4夾具無論是Preset還是信號質(zhì)量的測試，都需要被測件工作在特定速率的某些Preset下，要通過測試夾具控制被測件切換到需要的設置狀態(tài)。具體方法是：在被測件插入測試夾具并且上電以后，可以通過測試夾具上的切換開關控制DUT輸出不同速率的一致性測試碼型。在切換測試夾具上的Toggle開關時，正常的PCle4.0的被測件依次會輸出2.5Gbps、5Gbps-3dB、5Gbps-6dB、8GbpsP0、8GbpsP1、8GbpsP2、8GbpsP3、8GbpsP4、8Gbps我的被測件不是標準的PCI-E插槽金手指的接口，怎么進行PCI-E的測試？

在測試通道數(shù)方面，傳統(tǒng)上PCIe的主板測試采用了雙口(Dual-Port)測試方法，即需要 把被測的一條通道和參考時鐘RefClk同時接入示波器測試。由于測試通道和RefClk都是 差分通道，所以在用電纜直接連接測試時需要用到4個示波器通道(雖然理論上也可以用2個 差分探頭實現(xiàn)連接，但是由于會引入額外的噪聲，所以直接電纜連接是常用的方法),這種 方法的優(yōu)點是可以比較方便地計算數(shù)據(jù)通道相對于RefClk的抖動。但在PCIe5.0中，對于 主板的測試也采用了類似于插卡測試的單口(Single-Port)方法，即只把被測數(shù)據(jù)通道接入 示波器測試，這樣信號質(zhì)量測試中只需要占用2個示波器通道。圖4.23分別是PCIe5.0主 板和插卡信號質(zhì)量測試組網(wǎng)圖，芯片封裝和一部分PCB走線造成的損耗都是通過PCI-SIGpcie3.0和pcie4.0物理層的區(qū)別在哪里？校準PCI-E測試聯(lián)系人

PCI-E4.0的發(fā)射機質(zhì)量測試？校準PCI-E測試聯(lián)系人

PCle5.0的鏈路模型及鏈路損耗預算在實際的測試中，為了把被測主板或插卡的PCIe信號從金手指連接器引出，PCI-SIG組織也設計了專門的PCIe5.0測試夾具。PCle5.0的這套夾具與PCle4.0的類似，也是包含了CLB板、CBB板以及專門模擬和調(diào)整鏈路損耗的ISI板。主板的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到對應位寬的CLB板；插卡的發(fā)送信號質(zhì)量測試需要用到CBB板；而在接收容限測試中，由于要進行全鏈路的校準，整套夾具都可能會使用到。21是PCIe5.0的測試夾具組成。校準PCI-E測試聯(lián)系人