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光學(xué)經(jīng)緯儀和電子經(jīng)緯儀測(cè)量的原理和結(jié)構(gòu)上有所不同。如圖《光學(xué)經(jīng)緯儀和電子經(jīng)緯儀》所示，光學(xué)經(jīng)緯儀有以下部件組成：1、望遠(yuǎn)鏡，2、照準(zhǔn)部，3、度盤,4、測(cè)微器系統(tǒng)，5、軸系,6、水準(zhǔn)器，7、基座及腳螺旋，8、光學(xué)對(duì)點(diǎn)器幾大部分組成； 電子經(jīng)緯儀有以下部件組成：1、望遠(yuǎn)鏡，2、照準(zhǔn)部，3、光柵盤或光學(xué)碼盤,4、測(cè)微器系統(tǒng)，5、軸系,6、水準(zhǔn)器，7、基座及腳螺旋，8、光學(xué)對(duì)點(diǎn)器，9、讀數(shù)面板幾大部分組成。電子經(jīng)緯儀型號(hào)眾多，有相同的特點(diǎn)如下：1、儀器橫軸和豎軸采用相同的合金鋼制造的密珠式軸系，軸與軸套之間是螺旋形排列的滾珠，采用輕壓過(guò)盈配合。其間隙為零，它的誤差**是加工形狀誤差，因此這樣軸系具有精度高，溫度影響小，低溫轉(zhuǎn)動(dòng)靈活，抗震性能好，不易卡死，壽命長(zhǎng)等特點(diǎn)，從而保證儀器的可靠性和穩(wěn)定性。例如用電表測(cè)量電路中的電流、電壓等。工業(yè)園區(qū)品牌電子測(cè)量?jī)x器24小時(shí)服務(wù)

20世紀(jì)八十年代末，人們根據(jù)電子測(cè)角系統(tǒng)和電子測(cè)距系統(tǒng)的發(fā)展不平衡，將全站儀分成兩大類，即積木式和整體式。20世紀(jì)九十年代以來(lái)，基本上都發(fā)展為整體式全站儀。全站儀采用了光電掃描測(cè)角系統(tǒng)，其類型主要有：編碼盤測(cè)角系統(tǒng)、光柵盤測(cè)角系統(tǒng)及動(dòng)態(tài)（光柵盤）測(cè)角系統(tǒng)等三種。全站儀幾乎可以用在所有的測(cè)量領(lǐng)域。電子全站儀由電源部分、測(cè)角系統(tǒng)、測(cè)距系統(tǒng)、數(shù)據(jù)處理部分、通訊接口、及顯示屏、鍵盤等組成。同電子經(jīng)緯儀、光學(xué)經(jīng)緯儀相比，全站儀增加了許多特殊部件，因此而使得全站儀具有比其它測(cè)角、測(cè)距儀器更多的功能，使用也更方便。這些特殊部件構(gòu)成了全站儀在結(jié)構(gòu)方面獨(dú)樹(shù)一幟的特點(diǎn)。工業(yè)園區(qū)品牌電子測(cè)量?jī)x器24小時(shí)服務(wù)二次元又稱影像儀，影像測(cè)量?jī)x，二維影像測(cè)量?jī)x等，自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x。

微電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)技術(shù)的迅速發(fā)展，給傳統(tǒng)的測(cè)繪技術(shù)和測(cè)繪儀器帶來(lái)了很大的沖擊，使測(cè)繪儀器的發(fā)展產(chǎn)生了**性的變化，電子經(jīng)緯儀也是其中之一。 在國(guó)外電子經(jīng)緯儀的研究和試制大約要追溯到六十年代末和七十年代初，美國(guó)K&E公司試制了***臺(tái)數(shù)字經(jīng)緯儀，其后又有一些經(jīng)緯儀生產(chǎn)廠家也試制出電子經(jīng)緯儀樣機(jī)。但是，由于當(dāng)時(shí)技術(shù)條件等原因的限制，電子經(jīng)緯儀的性能與傳統(tǒng)的光學(xué)經(jīng)緯儀相比并沒(méi)有太多的改進(jìn)，如無(wú)計(jì)算能力等。而且體積又比較龐大，耗電多，成本高，價(jià)格十分昂貴，超出光學(xué)經(jīng)緯儀幾倍甚至幾十倍的價(jià)格。 但是，電子經(jīng)緯儀的出現(xiàn)和推廣正如其它電子產(chǎn)品一樣，具有強(qiáng)大的生命力

間接測(cè)量法先對(duì)幾個(gè)與被測(cè)量有一定函數(shù)關(guān)系的量進(jìn)行直接測(cè)量，然后通過(guò)**該函數(shù)關(guān)系的公式、曲線或表格把被測(cè)量求出來(lái)的測(cè)量稱為間接測(cè)量。例如，要測(cè)某一導(dǎo)體的電阻率p，可先測(cè)出該導(dǎo)體的電阻R、長(zhǎng)度L以及其截面積S，然后通過(guò)公式p=RS/L求出電阻率的數(shù)值。當(dāng)被測(cè)量不能直接測(cè)量或直接測(cè)量過(guò)程很復(fù)雜時(shí)，或當(dāng)時(shí)缺乏直接測(cè)量量具、儀器、儀表時(shí)，就要考慮采用間接測(cè)量方法。組合測(cè)量法在某些測(cè)量中，當(dāng)被測(cè)量與幾個(gè)未知量有關(guān)時(shí)，可先測(cè)取其中的一個(gè)或幾個(gè)未知量，然后根據(jù)測(cè)量所得的數(shù)據(jù)，通過(guò)求解聯(lián)立方程組來(lái)求得被測(cè)量的數(shù)值，這種測(cè)量方法稱為組合測(cè)量。這件儀器由一根標(biāo)尺和一個(gè)十字形尺組成，十字形尺較低的一端置于水平位置。

無(wú)線通信測(cè)試儀手機(jī)綜合測(cè)試儀、TDMA測(cè)試儀、無(wú)線電綜合測(cè)試儀、PDC/PHS測(cè)試儀、天饋線測(cè)試儀、3G測(cè)試儀、DECT測(cè)試儀、藍(lán)牙綜合測(cè)試儀。音頻/視頻測(cè)試儀音頻/視頻信號(hào)發(fā)生器、有線電視分析儀、彩***分析儀、音頻分析儀、碼型發(fā)生器/誤碼率。光通信測(cè)試儀光譜分析儀、數(shù)字傳輸分析儀、協(xié)議分析儀、光網(wǎng)絡(luò)分析儀、光時(shí)域反射計(jì)、光功率計(jì)/功率探頭、誤碼儀、光衰減器、光源、光示波器?！峨娮觾x器手冊(cè)》出版信息作 者：（美）庫(kù)姆斯 主編，張倫等譯，吳常津 等人出 版 社：科學(xué)出版社出版時(shí)間：

例如：半導(dǎo)體分立元件測(cè)試儀、集成電路測(cè)試儀等。太倉(cāng)質(zhì)量電子測(cè)量?jī)x器供應(yīng)商

例如：大規(guī)模集成電路測(cè)試系統(tǒng)、GPIB系統(tǒng)等。工業(yè)園區(qū)品牌電子測(cè)量?jī)x器24小時(shí)服務(wù)

電子測(cè)距儀有很多種，如：手持測(cè)距儀、激光測(cè)距儀、超聲波測(cè)距儀、紅外測(cè)距儀，介紹其中的幾種； 光學(xué)測(cè)距儀，英文全名“Optical Range Finder”?？芍弊g為“射程測(cè)量?jī)x”它是采用三角函數(shù)概念來(lái)測(cè)算距離的儀器。其概念雖然在18世紀(jì)就已經(jīng)提出，但無(wú)奈當(dāng)時(shí)落后的光學(xué)鏡頭加工技術(shù)難以實(shí)現(xiàn)。在測(cè)距儀出現(xiàn)以前，巨大的10英寸和12英寸火炮想擊中10000碼以外的目標(biāo)簡(jiǎn)直就是天方夜潭。在使用“測(cè)距炮”這種笨辦法的年代里?；鹋?能擊中2000碼以內(nèi)的目標(biāo)。工業(yè)園區(qū)品牌電子測(cè)量?jī)x器24小時(shí)服務(wù)

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