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電子探針(Electron Probe Microanalysis)是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器, [1]可以用來(lái)分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成。除H、He、Li、Be等幾個(gè)較輕元素外,還有U元素以后的元素以外都可進(jìn)行定性和定量分析。電子探針的大批量是利用經(jīng)過(guò)加速和聚焦的極窄的電子束為探針,激發(fā)試樣中某一微小區(qū)域,使其發(fā)出特征X射線,測(cè)定該X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度,即可對(duì)該微區(qū)的元素作定性或定量分析。電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的,該儀器實(shí)質(zhì)上就是這兩種儀器的科學(xué)組合。光學(xué)顯微鏡目測(cè)系統(tǒng)。用以準(zhǔn)確選擇需要分析的區(qū)域,并作光學(xué)觀察。崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針按需定制
2.手機(jī)偽隨機(jī)mac某些手機(jī)品牌對(duì)WiFi探針技術(shù)進(jìn)行了防護(hù),在未連接WiFi的情況下手機(jī)廣播的是隨機(jī)mac,即使被WiFi探針設(shè)備捕獲也無(wú)法關(guān)聯(lián)到用戶正確信息。這種偽隨機(jī)mac可避免無(wú)任何操作下WiFi探針對(duì)當(dāng)前環(huán)境的被動(dòng)監(jiān)測(cè),iOS 9.0以上版本也有類似機(jī)制。3. WiFi誘導(dǎo)但偽隨機(jī)mac機(jī)制并不能完全保證用戶網(wǎng)絡(luò)安全,因?yàn)閃iFi協(xié)議默認(rèn)當(dāng)用戶連接過(guò)某個(gè)WiFi后,再次發(fā)現(xiàn)同名**WiFi即可自動(dòng)連接。處于WiFi連接狀態(tài)的真實(shí)手機(jī)mac地址即可被捕獲,設(shè)備廠家則利用協(xié)議機(jī)制誘導(dǎo)用戶連接偽造WiFi,從而捕獲到用戶手機(jī)mac信息。青浦區(qū)特制探針?shù)N售廠家不隨意安裝非正規(guī)商家應(yīng)用App、及各類廣告插件App,使用正規(guī)合法App是保護(hù)個(gè)人信息;
探針DNA克隆的篩選也可采用血清學(xué)方法,所不同的是所建DNA文庫(kù)為可表達(dá)性,克隆菌落或噬斑經(jīng)裂解后釋放出表達(dá)抗原,然后用來(lái)源細(xì)菌的多克隆抗血清篩選陽(yáng)性克隆,所得到多個(gè)陽(yáng)性克隆再經(jīng)其它細(xì)菌的抗血清篩選,***只與本細(xì)菌抗血清反應(yīng)的表達(dá)克隆即含有此細(xì)菌的特異性基因片段,它所編碼的蛋白是該菌種所特有的。用這種表達(dá)文庫(kù)篩選得到的顯然只是特定基因探針。對(duì)于基因探針的克隆尚有更快捷的途徑。這也是許多重要蛋白質(zhì)的編碼基因的克隆方法。該方法的第一步是分離純化蛋白質(zhì),然后測(cè)定該蛋白的氨基或羥基末端的部分氨基酸序列,然后根據(jù)這一序列合成一套寡核苷酸探針。
***臺(tái)電子探針是法國(guó)制成的,是在1949年用電子顯微鏡和X射線光譜儀組合而成。1953年前蘇聯(lián)制成了X射線微區(qū)分析儀,以后英、美等國(guó)陸續(xù)生產(chǎn)。***臺(tái)掃描電子探針儀是美國(guó)于1960年制成,不僅能對(duì)試樣作點(diǎn)或微區(qū)分析,而且能對(duì)樣品表面微區(qū)進(jìn)行掃描。原子序數(shù)12至22的元素要在真空下進(jìn)行成分測(cè)定,原子序數(shù)12以內(nèi)的元素需要增添一些特殊設(shè)備才能分析。原子序數(shù)50以上的元素用L系X射線光譜進(jìn)行分析,原子序數(shù)50以下的元素也可以分析,如Sn(50)可用K系x射線光譜進(jìn)行分析。 [2]后期生產(chǎn)的儀器,可作X射線背散射照相、照相。
電子探針儀(圖1)主要包括:探針形成系統(tǒng) (電子槍、加速和聚焦部件等)、X射線信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)和顯示、記錄系統(tǒng)、樣品室、高壓電源和掃描系統(tǒng)以及真空系統(tǒng)。電子探針的**早應(yīng)用領(lǐng)域是金屬學(xué)。對(duì)合金中各組成相、夾雜物等可作定性和定量分析,直觀而方便,還能較準(zhǔn)確地測(cè)定元素的擴(kuò)散和偏析情況。此外,它還可用于研究金屬材料的氧化和腐蝕問(wèn)題,測(cè)定薄膜、滲層或鍍層的厚度和成分等,是機(jī)械構(gòu)件失效分析、生產(chǎn)工藝的選擇、特殊用材的剖析等的重要手段。圖2為鎂合金中稀土氧化物在晶界析出的電子探針?lè)治稣掌?。還能全自動(dòng)進(jìn)行批量(預(yù)置9999測(cè)試點(diǎn))定量分析。閔行區(qū)質(zhì)量探針售價(jià)
1953年前蘇聯(lián)制成了X射線微區(qū)分析儀,以后英、美等國(guó)陸續(xù)生產(chǎn)。崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針按需定制
2)X射線能譜分析法。無(wú)須分析晶體,而直接將探測(cè)器接收的訊號(hào)加以放大,進(jìn)行脈沖幅度分析,通過(guò)選擇不同的脈沖幅度來(lái)確定入射x射線的能量,從而區(qū)分不同的特征X射線。計(jì)算時(shí)應(yīng)用布拉格方程:nλ=2dsinθ。 [2]1、能進(jìn)行微區(qū)分析。可分析數(shù)個(gè)μm3內(nèi)元素的成分。2、能進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)分析。無(wú)需把分析對(duì)象從樣品中取出,可直接對(duì)大塊試樣中的微小區(qū)域進(jìn)行分析。把電子顯微鏡和電子探針結(jié)合,可把在顯微鏡下觀察到的顯微組織和元素成分聯(lián)系起來(lái)。3、分析范圍廣。Z>4其中,波譜:Be~U,能譜:Na~U。崇明區(qū)標(biāo)準(zhǔn)探針按需定制
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