杭州半導體激光測量系統(tǒng)廠家直銷

來源: 發(fā)布時間:2025-05-08

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LD/LED光源測量系統(tǒng)

【概述】LD和LED是較常見的半導體光源,在工業(yè)和科研領域都有著廣泛的應用,其光譜特征和功率數(shù)值是重要的性能指標。BIX-8801系統(tǒng)提供了光源驅動、器件安裝、光采樣和傳導、光譜和光功率測量等所有涉及的組件。系統(tǒng)包含了以電流驅動控制、溫度驅動控制和器件安裝組件為關鍵的解決方案,電流驅動控制器和溫度驅動控制都可以提供多種規(guī)格,為LD和LED器件的研究提供相匹配的設備支撐。

【特點】~選配件豐富,可按需配置。~模塊化設計,集成靈活方便。~平臺化軟件,支持所有設備。~支持多維數(shù)據(jù)同步分析。

【應用】~半導體發(fā)光器件研究。~光電材料特性研究。~激光系統(tǒng)驅動控制。~控溫設備驅動。 紅外輻射測量系統(tǒng),利用物體紅外輻射特性,實現(xiàn)非接觸測溫,工業(yè)熱成像檢測常用。浙江BIX-8801 LD/LED光源測量系統(tǒng)廠家電話

熒光測量系統(tǒng)在考古科研,鑒別文物材質,無損檢測文物狀況。杭州半導體激光測量系統(tǒng)廠家直銷

BIX-8811反射率測量系統(tǒng)

【概述】反射率是物質/材料的基本光學特性,也是光譜測量的基本內(nèi)容。對于不同種類的樣品,物體表面的反射主要有鏡面反射和漫反射兩種。光在完美平整表面上的反射是鏡面反射,在毛糙表面上的反射是漫反射,而光在大多數(shù)物體表面的反射則介于兩者之間。反射測量可以用于測量元件的反射率,也可以測量分析物體的反射的顏色和化學樣品中的成分信息。當我們對物體進行反射測量時,判斷物體表面主要是哪種反射類型是非常重要的。那些看上去非常光亮的樣品表面大多數(shù)是鏡面反射,可采用光纖進行取樣測量,而對于曲面樣品,采用積分球取樣測量更為合適。

【特點】~樣品放置方便,夾具要求不高。~操作簡便、重復性好、檢測快速。~方便讀取全譜的反射率值和曲線。~可通過積分球采樣測量材料顏色。

【應用】~物質/材料的鏡面反射測量。~物質/材料的漫反射測量。~物質/材料的顏色測量。 杭州半導體激光測量系統(tǒng)廠家直銷