分布光度計(jì)暗室的要求***部分:1、溫度要求根據(jù)CIE70和LM-79的要求,在使用分布式光度計(jì)進(jìn)行測(cè)量時(shí),通常是在25°的環(huán)境溫度下進(jìn)行的。對(duì)于光通輸出對(duì)溫度影響很明顯的光源,溫度容限應(yīng)該為±1°,其他光源為±3°。如果測(cè)試是在不同的環(huán)境溫度下進(jìn)行的測(cè)試,溫度應(yīng)該予以陳述。為了達(dá)到這種測(cè)試環(huán)境,通常要求在燈具安裝的環(huán)境中安裝空調(diào),以便進(jìn)行溫度控制。同時(shí)需要配備精度為0.01°的溫度計(jì)進(jìn)行溫度校準(zhǔn)。2、雜散光要求雜散光可以使光強(qiáng)分布測(cè)試結(jié)果失敗,所以推薦在光源和光度探頭接收面之間使用擋屏來(lái)限制入射的雜散光,但擋屏不能在光束中引起阻隔。通過(guò)在光源和光度探頭的中間位置放置一個(gè)**小可能尺寸的屏來(lái)判斷雜散光的比例是可行的,屏擋住了從光源到接收面的直射光。光強(qiáng)分布的測(cè)試應(yīng)該在擋屏處在對(duì)應(yīng)位置上時(shí)能夠復(fù)現(xiàn)。此時(shí)的測(cè)量信號(hào)就是直射雜散光的信號(hào),應(yīng)該將這個(gè)量從沒(méi)有這個(gè)擋屏的測(cè)試結(jié)果中減去。交通警示燈分布光度計(jì)測(cè)試系統(tǒng)。紹興快速分布光度計(jì)解決方案
翊明分布光度計(jì)用于全息護(hù)眼教室燈具測(cè)量,研究結(jié)論發(fā)現(xiàn),要真正做到保護(hù)學(xué)生視力健康的教室燈具,全息護(hù)眼教室燈具需要滿(mǎn)足無(wú)眩光:無(wú)眩光,角度小于16,傳統(tǒng)的熒光燈或LED燈管都是直接裸露安裝在天花頂位置,光線直接投射下來(lái),沒(méi)有任何二次光學(xué)設(shè)計(jì),當(dāng)學(xué)生坐在教室里看著黑板,天花頂上安裝多條燈管的強(qiáng)光會(huì)投射到眼睛(特別坐在中后部的學(xué)生)時(shí)間久了會(huì)引起強(qiáng)烈的不適,產(chǎn)生眼花,重影,嚴(yán)重影響視力疲勞,久而久之對(duì)視力造成極大的傷害。護(hù)眼燈采用二次光學(xué)光均勻擴(kuò)散及格柵光學(xué)設(shè)計(jì),光垂直照下不會(huì)直接照射到眼睛。中山配光性能測(cè)試分布光度計(jì)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)分布光度計(jì)的測(cè)量數(shù)據(jù)可用于照明系統(tǒng)的模擬。
翊明臥式分布光度計(jì)采用探測(cè)器靜止,轉(zhuǎn)動(dòng)燈具的測(cè)量原理,實(shí)現(xiàn)光源或燈具各個(gè)方向上的光強(qiáng)分布測(cè)量,滿(mǎn)足CIE、IESNA等國(guó)際、國(guó)內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)等要求,配不同軟件實(shí)現(xiàn)C-γ、A-α和B-β等多種測(cè)量方式。是翊明科技自主設(shè)計(jì)了計(jì)算機(jī)控制的高精度兩軸連續(xù)旋轉(zhuǎn)燈具工作臺(tái),有效消除了現(xiàn)有結(jié)構(gòu)來(lái)回轉(zhuǎn)向間隙,采用高導(dǎo)電率的金屬制成具有錯(cuò)層結(jié)構(gòu)的導(dǎo)電滑環(huán),隔離驅(qū)動(dòng)電路和控制電路,消除了大電流對(duì)控制電路的干擾,實(shí)現(xiàn)了燈具的三維平穩(wěn)運(yùn)動(dòng),提高了整機(jī)的可靠性與測(cè)量精度。創(chuàng)新設(shè)計(jì)了金屬電熱膜環(huán)繞加熱恒溫腔,加熱場(chǎng)分布更加均勻,并通過(guò)模糊控制算法控制金屬導(dǎo)電膜電流大小,使恒溫控制更加快速、穩(wěn)定,減少了測(cè)試系統(tǒng)溫度波動(dòng),保證了光電轉(zhuǎn)換的準(zhǔn)確,提高了分布光度計(jì)的精細(xì)度。
光強(qiáng)分布曲線測(cè)試是一種測(cè)試光學(xué)系統(tǒng)光強(qiáng)分布的技術(shù),主要通過(guò)測(cè)量光在空間中的分布情況,并繪制出相應(yīng)的曲線圖來(lái)描述光的強(qiáng)度分布情況。由于光學(xué)系統(tǒng)中不同位置的光強(qiáng)度不同,因此對(duì)光強(qiáng)分布曲線的測(cè)試可以幫助我們更好地了解光在系統(tǒng)中的運(yùn)動(dòng)和傳遞規(guī)律。在進(jìn)行光強(qiáng)分布曲線測(cè)試時(shí),通常采用光路干涉法或掃描法。光路干涉法主要使用干涉儀,通過(guò)干涉光束得到光強(qiáng)分布情況。而掃描法則通過(guò)掃描測(cè)量系統(tǒng)的物面或像面,得到光在不同位置的強(qiáng)度分布情況。兩種方法各有優(yōu)劣,選擇合適的測(cè)試方法應(yīng)根據(jù)測(cè)試目的和實(shí)驗(yàn)條件來(lái)進(jìn)行選擇。分布光度計(jì)的測(cè)量結(jié)果可用于照明系統(tǒng)的光強(qiáng)分布研究。
翊明分布光度計(jì)暗室的標(biāo)準(zhǔn)要求:①溫度要求:根據(jù)CIE70和LM-79的要求,在使用分布式光度計(jì)進(jìn)行測(cè)量時(shí),通常是在25°的環(huán)境溫度下進(jìn)行的。②雜散光要求:雜散光可以使光強(qiáng)分布測(cè)試結(jié)果失敗,所以推薦在光源和廣度探頭接收面之間使用擋屏來(lái)限制入射的雜散光,但擋屏不能在光束中引起阻隔。光強(qiáng)分布的測(cè)試應(yīng)該在擋屏處在對(duì)應(yīng)位置上時(shí)能夠復(fù)現(xiàn)。此時(shí)的測(cè)量信號(hào)就是直射雜散光的信號(hào),應(yīng)該將這個(gè)量從沒(méi)有這個(gè)擋屏的測(cè)試結(jié)果中減去。③暗室墻面涂刷要求:通常在給用戶(hù)設(shè)計(jì)暗室圖紙時(shí),都會(huì)指明使用亞光黑的涂料,將房間內(nèi)所有墻面涂刷好。需要注意的是,房間所有墻面中,**重要的墻面是正對(duì)光度探頭的墻面,通常也是分布式光度計(jì)主機(jī)背后的墻面。該處若存在雜散光,將會(huì)直接照射到探頭中。④暗室尺寸要求:根據(jù)LM-79和CIE-70的要求,測(cè)試光路長(zhǎng)度至少要為被測(cè)燈具直徑**長(zhǎng)尺寸的6倍以上,意味著如果被測(cè)燈具的比較大尺寸為1.2米,那么光路的長(zhǎng)度至少需要為6米,加上主機(jī)和探頭預(yù)留的位置,整體暗室長(zhǎng)度至少要在8米以上。符合規(guī)范的暗室環(huán)境能夠很大程度地保證測(cè)試精度。汽車(chē)前照大燈配光曲線測(cè)試分布光度計(jì)。衢州CIE文件格式分布光度計(jì)調(diào)試
分布光度計(jì)的測(cè)量數(shù)據(jù)可用于照明系統(tǒng)的光強(qiáng)分布分析。紹興快速分布光度計(jì)解決方案
GMS-2020翊明分布光度計(jì)測(cè)試系統(tǒng)用于LED模塊、LED燈具和其他光源及燈具總光通量、區(qū)域光通量、空間光強(qiáng)分布曲線(配光曲線)、光強(qiáng)數(shù)據(jù)、光束角、等照度圖、等光強(qiáng)圖、利用系數(shù)、亮度限制曲線、眩光等級(jí)、有效平均照度曲線等參數(shù)的高精度測(cè)試;可實(shí)現(xiàn)各種光源、燈具空間顏色分布、亮度分布測(cè)量、閃亮面積測(cè)量、平均顏色特性及空間顏色不均勻性測(cè)量;符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)要求的測(cè)控軟件:測(cè)試結(jié)果能直接以IESNA(95,2001)、EULUMDAT、CIBSE(TM14),CIE等國(guó)際通用的標(biāo)準(zhǔn)格式文件輸出。支持DLC使用“ApplicationPre-submissionTools”直接調(diào)用.ies或.spdx文件;支持GLDF文件,GLDF是一種新的、現(xiàn)代的、模塊化的照明數(shù)據(jù)格式,由DIALUX和RELUX開(kāi)發(fā);紹興快速分布光度計(jì)解決方案