DDR測試信號完整性測試修理

信號校準(zhǔn)服務(wù)默認(rèn)情況下，當(dāng)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）開啟時，其參考平面位于前面板。將電纜連接到被測設(shè)備時，校準(zhǔn)參考必須使用短路-開路-負(fù)載-直通法（SOLT）、直通反射線或直通反射匹配參考結(jié)構(gòu)。SOLT是常見的方法。電纜可以直接連接到DUT或夾具。夾具安裝在電纜和DUT之間，有助于兼容不同類型的連接器，例如HDMI、顯示端口、串行ATA和PCIExpress。在本示例中，校準(zhǔn)參考面包括電纜，而去嵌入?yún)⒖济姘▕A具。將校準(zhǔn)誤差校正和去嵌入相結(jié)合時，必須包括通道中與DUT的所有互連。連接DUT后，您就可以進(jìn)行測量，并執(zhí)行測量后（去嵌入）誤差校正。信號完整性測試內(nèi)容 ?高速電路中的常見問題和測試技巧衡量高速信號質(zhì)量的重要手段和方法；DDR測試信號完整性測試修理

探索和設(shè)計信號完整性解決方案初步找到信號衰減的根本原因之后，您就需要研究并確定比較好的解決方案。首先，要執(zhí)行去除設(shè)計缺陷后的仿真測試，以驗(yàn)證您確實(shí)找到了信號完整性衰減的根本原因。我們的建議是，與其將刪除有問題的區(qū)域作為解決方案，不如試著在接收機(jī)上添加均衡，例如添加決策反饋均衡（DFE）、頻域中的連續(xù)時間線性均衡或時域中的發(fā)射機(jī)前饋均衡。同樣，您也可以通過仿真來添加均衡，通過在示波器上實(shí)時觀察眼圖的變化，即可測試該均衡是否已經(jīng)解決了信號完整性衰減的問題。DDR測試信號完整性測試修理克勞德實(shí)驗(yàn)室信號完整性測試系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)；

改變兩條有插入損耗波谷影響的傳輸線之間的間距。虛擬實(shí)驗(yàn)之一是改變線間距。當(dāng)跡線靠近或遠(yuǎn)離時，一條線的插入損耗上的諧振吸收波谷會出現(xiàn)什么情況？圖35所示為簡單的兩條耦合線模型中一條線上模擬的插入損耗，間距分別為50、75、100、125和150密耳。紅色圓圈為單端跡線測得的插入損耗。每條線表示不同間距下插入損耗的模擬響應(yīng)。頻率諧振比較低的跡線間距為50密耳，之后是75密耳，排后是150密耳。隨著間距增加，諧振頻率也增加，這差不多與直覺相反。大多數(shù)諧振效應(yīng)的頻率會隨著尺寸增加而降低。然而，在這個效應(yīng)中，諧振頻率卻隨著尺寸和間距的增加而增加。要不是前文中我們已經(jīng)確認(rèn)模擬數(shù)據(jù)和實(shí)測數(shù)據(jù)之間非常一致，我們可能會對模擬結(jié)果產(chǎn)生懷疑。波谷顯然不是諧振效應(yīng)，其起源非常微妙，但與遠(yuǎn)端串?dāng)_密切相關(guān)。在頻域中，當(dāng)正弦波進(jìn)入排前條線的前端時，它會與第二條線耦合。在傳播中，所有的能量會在一個頻率點(diǎn)從排前條線耦合到相鄰線，導(dǎo)致排前條線上沒有任何能量，因此出現(xiàn)一個波谷。

4.系統(tǒng)模型及分類a.連續(xù)時間系統(tǒng)與離散時間系統(tǒng)：若系統(tǒng)的輸入和輸出都是連續(xù)時間信號，且其內(nèi)部也未轉(zhuǎn)化為離散時間信號，則稱此系統(tǒng)為連續(xù)時間系統(tǒng)。若系統(tǒng)的輸入和輸出都是離散時間信號，則此系統(tǒng)為零散時間系統(tǒng)?；旌舷到y(tǒng)：離散時間系統(tǒng)和連續(xù)時間系統(tǒng)的組和。b.即時系統(tǒng)與動態(tài)系統(tǒng)：如果系統(tǒng)的輸出信號只決定于同時刻的激勵信號與他過去的工作狀態(tài)無關(guān)，則此系統(tǒng)為即時系統(tǒng)。如果系統(tǒng)的輸出信號不僅取決于同時刻激勵信號，而且與他過去的工作狀態(tài)有關(guān)，這種系統(tǒng)稱為動態(tài)系統(tǒng)。c.集總參數(shù)系統(tǒng)與分布參數(shù)系統(tǒng)：由集總參數(shù)軟件組成的系統(tǒng)，是集總參數(shù)系統(tǒng)。含有分布參數(shù)元件的系統(tǒng)是分布參數(shù)系統(tǒng)。其中集總參數(shù)系統(tǒng)用常微分方程作為數(shù)學(xué)模型，分布參數(shù)系統(tǒng)用偏微分作為模型d.線性系統(tǒng)與非線性系統(tǒng)：具有疊加性與均勻性的系統(tǒng)稱為線性系統(tǒng)。不滿足疊加性和均勻性的系統(tǒng)則為非線性系統(tǒng)。e.時變系統(tǒng)與時不變系統(tǒng)：如果系統(tǒng)的參數(shù)不隨時間而變化，則此系統(tǒng)為時不變系統(tǒng)，如果系統(tǒng)的參量隨時間變，則系統(tǒng)為時變系統(tǒng)。f.可逆系統(tǒng)與不可逆系統(tǒng)：由系統(tǒng)在不同的激勵信號下產(chǎn)生不同的響應(yīng)，則系統(tǒng)為可逆系統(tǒng)。否則為不可逆系統(tǒng)?？藙诘聦?shí)驗(yàn)室數(shù)字信號完整性測試進(jìn)行抖動分析結(jié)果；

一般討論的信號完整性基本上以研究數(shù)字電路為基礎(chǔ)，研究數(shù)字電路的模擬特性。主要包含兩個方面：信號的幅度(電壓)和信號時序。

與信號完整性噪聲問題有關(guān)的四類噪聲源：1、單一網(wǎng)絡(luò)的信號質(zhì)量2、多網(wǎng)絡(luò)間的串?dāng)_3、電源與地分配中的軌道塌陷4、來自整個系統(tǒng)的電磁干擾和輻射

當(dāng)電路中信號能以要求的時序、持續(xù)時間和電壓幅度到達(dá)接收芯片管腳時，該電路就有很好的信號完整性。當(dāng)信號不能正常響應(yīng)或者信號質(zhì)量不能使系統(tǒng)長期穩(wěn)定工作時，就出現(xiàn)了信號完整性問題。信號完整性主要表現(xiàn)在延遲、反射、串?dāng)_、時序、振蕩等幾個方面。一般認(rèn)為，當(dāng)系統(tǒng)工作在50MHz時，就會產(chǎn)生信號完整性問題，而隨著系統(tǒng)和器件頻率的不斷攀升，信號完整性的問題也就愈發(fā)突出。元器件和PCB板的參數(shù)、元器件在PCB板上的布局、高速信號的布線等這些問題都會引起信號完整性問題，導(dǎo)致系統(tǒng)工作不穩(wěn)定，甚至完全不能正常工作。 信號完整性測試有波形測試、眼圖測試、抖動測試；DDR測試信號完整性測試修理

信號完整性測試總結(jié)及常見問題；DDR測試信號完整性測試修理

一致性達(dá)到了驚人的約8GHz。這表明，沒有出現(xiàn)任何異常情況。沒有出現(xiàn)任何超出兩條耦合有損線正常行為的情況。在此例中，未被驅(qū)動的第二條線端接了50歐姆電阻，而模型的設(shè)置也與之匹配。我們看到，當(dāng)一條單線用在一對線當(dāng)中時，插入損耗上會出現(xiàn)反常的波谷，而當(dāng)這條單線被隔離時，波谷并不會出現(xiàn)。通過場解算器我們證實(shí)了這一點(diǎn)，是相鄰線的接近在某種程度上導(dǎo)致了波谷的產(chǎn)生。引起這種災(zāi)難性的行為效果并不反常，只是很微妙。我們可能花上幾個星期的時間在新的板子上陸續(xù)測試一個個效果，試圖找出影響此行為的原因。例如，我們可以改變耦合長度、線寬、間距、電介質(zhì)厚度，甚至是介電常數(shù)和耗散因數(shù)，來探尋是什么影響了諧振頻率。我們也可以使用如ADS這樣的仿真工具進(jìn)行同樣的虛擬實(shí)驗(yàn)。只有當(dāng)我們相信工具能準(zhǔn)確地預(yù)測這種行為時，我們才可以用它來探索設(shè)計空間。DDR測試信號完整性測試修理