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IC芯片檢測(cè)需要應(yīng)用的設(shè)備主要是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備【ATE】+機(jī)械臂【Handler】+儀器儀表，需要制作的硬件是測(cè)試板【Loadboard】+測(cè)試插座【Socket】等。系統(tǒng)級(jí)SLT測(cè)試，常應(yīng)用于功能測(cè)試、性能測(cè)試和可靠性測(cè)試中，常常作為成品FT測(cè)試的補(bǔ)充而存在，顧名思義就是在一個(gè)系統(tǒng)環(huán)境下進(jìn)行測(cè)試，就是把芯片放到它正常工作的環(huán)境中運(yùn)行功能來(lái)檢測(cè)其好壞，缺點(diǎn)是只能覆蓋一部分的功能，覆蓋率較低所以一般是FT的補(bǔ)充手段。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是機(jī)械臂【Handler】，需要制作的硬件是系統(tǒng)板【SystemBoard】+測(cè)試插座【Socket】。IC芯片對(duì)于離散晶體管有兩個(gè)主要優(yōu)勢(shì)：成本和性能。TPS2829DBVR現(xiàn)貨供應(yīng)

IC芯片進(jìn)入量產(chǎn)階段測(cè)試很重要了，如何去監(jiān)督控制測(cè)試良率，如何應(yīng)對(duì)客訴和PPM低的情況，如何持續(xù)的優(yōu)化測(cè)試流程，提升測(cè)試程序效率，縮減測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試成本等等。IC芯片（IntegratedCircuitChip）是將大量的微電子元器件（晶體管、電阻、電容等）形成的集成電路放在一塊塑基上，做成一塊芯片。IC芯片包含晶圓芯片和封裝芯片，相應(yīng)IC芯片生產(chǎn)線由晶圓生產(chǎn)線和封裝生產(chǎn)線兩部分組成。芯片的工作原理是：將電路制造在半導(dǎo)體芯片表面上從而進(jìn)行運(yùn)算與處理的。TPS54519RTER庫(kù)存充足IC芯片判斷好壞方法：器件質(zhì)量問(wèn)題：由于芯片和其它器件質(zhì)量不良導(dǎo)致的損壞。

IC芯片技術(shù)包括芯片制造技術(shù)與設(shè)計(jì)技術(shù)，主要體現(xiàn)在加工設(shè)備，加工工藝，封裝測(cè)試，批量生產(chǎn)及設(shè)計(jì)創(chuàng)新的能力上。如何判斷IC芯片的好壞：不在路檢測(cè)：這種方法是在ic未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測(cè)量各引腳對(duì)應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進(jìn)行比較。在路檢測(cè)：這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測(cè)IC各引腳在路（IC在電路中）直流電阻、對(duì)地交直流電壓以及總工作電流的檢測(cè)方法。這種方法克服了代換試驗(yàn)法需要有可代換IC的局限性和拆卸IC的麻煩，是檢測(cè)IC常用和實(shí)用的方法。

IC芯片可靠性測(cè)試，芯片通過(guò)了功能與性能測(cè)試，得到了好的芯片，但是芯片會(huì)不會(huì)被冬天里討厭的靜電弄壞，在雷雨天、三伏天、風(fēng)雪天能否正常工作，以及芯片能用一個(gè)月、一年還是十年等等，這些都要通過(guò)可靠性測(cè)試進(jìn)行評(píng)估。板級(jí)測(cè)試，主要應(yīng)用于功能測(cè)試，使用PCB板+芯片搭建一個(gè)“模擬”的芯片工作環(huán)境，把芯片的接口都引出，檢測(cè)芯片的功能，或者在各種嚴(yán)苛環(huán)境下看芯片能否正常工作。需要應(yīng)用的設(shè)備主要是儀器儀表，需要制作的主要是EVB評(píng)估板。晶圓CP測(cè)試，常應(yīng)用于功能測(cè)試與性能測(cè)試中，了解芯片功能是否正常，以及篩掉芯片晶圓中的故障芯片。為了確定ic芯片廠家哪個(gè)好就要多選擇幾個(gè)廠家對(duì)比。

IC芯片封裝工藝與方式介紹，由于芯片必須與外界隔離，防止空氣中的雜質(zhì)對(duì)芯片電路的腐蝕而造成電氣性能下降，所以芯片需要進(jìn)行封裝。另一方面，封裝后的芯片也更便于安裝和運(yùn)輸。由于封裝技術(shù)的好壞還直接影響到芯片自身性能的發(fā)揮和與之連接的PCB(印制電路板)的設(shè)計(jì)和制造，因此它是至關(guān)重要的。那么芯片封裝分為哪些方式，封裝又有哪些工藝？封裝的材料：分為金屬封裝、陶瓷封裝與塑料封裝三種材料。金屬封裝主要用于航天技術(shù)，無(wú)商業(yè)化產(chǎn)品；陶瓷封裝優(yōu)于金屬封裝，也用于特殊產(chǎn)品，占少量商業(yè)化市場(chǎng)；塑料封裝用于消費(fèi)電子，因?yàn)槠涑杀镜停に嚭?jiǎn)單，可靠性高而占有絕大部分的市場(chǎng)份額。IC芯片編寫的診斷程序要嚴(yán)格有針對(duì)，能夠讓某些關(guān)鍵部位出現(xiàn)有規(guī)律的信號(hào)。TJA1057T/1現(xiàn)貨供應(yīng)

對(duì)于多種工作方式的裝置，如錄像機(jī)，在不同工作方式下，IC芯片各引腳電壓也是不同的。TPS2829DBVR現(xiàn)貨供應(yīng)

因?yàn)榇蠖嗖捎玫氖撬芰希嵝Ч^差，無(wú)法滿足現(xiàn)行高速芯片的要求。因此，使用雙排直立式封裝的，大多是歷久不衰的芯片，或是對(duì)運(yùn)作速度沒(méi)那么要求且芯片較小、接孔較少的IC芯片。芯片需要做哪些測(cè)試呢？主要分三大類：芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試，芯片產(chǎn)品要上市三大測(cè)試缺一不可。功能測(cè)試，是測(cè)試芯片的參數(shù)、指標(biāo)、功能。性能測(cè)試，由于芯片在生產(chǎn)制造過(guò)程中，有無(wú)數(shù)可能的引入缺陷的步驟，即使是同一批晶圓和封裝成品，芯片也各有好壞，所以需要進(jìn)行篩選，人話說(shuō)就是雞蛋里挑石頭，把“石頭”芯片丟掉。TPS2829DBVR現(xiàn)貨供應(yīng)

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