東莞表面絕緣SIR電阻測(cè)試

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-08-04

在電子組裝行業(yè),有許多可用的方法可以來(lái)評(píng)估組件表面的電化學(xué)遷移傾向。根據(jù)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試將繼續(xù)為SIR。這是因?yàn)樵摐y(cè)試**接近組件的正常使用壽命中導(dǎo)致電化學(xué)遷移的條件,而且它考慮了所有促進(jìn)電化學(xué)遷移機(jī)制的四個(gè)因素之間的相互作用。當(dāng)測(cè)試集中在一個(gè)或一些因素上時(shí),例如測(cè)試離子含量,它們可能表明每個(gè)組件上離子種類的變化,但它們不能直接評(píng)估電化學(xué)遷移的傾向。在銅、電壓、濕度和離子含量之間的相互作用中存在著一些關(guān)鍵因素,電解會(huì)導(dǎo)致枝晶生長(zhǎng),這將繼續(xù)推動(dòng)測(cè)試的最佳實(shí)踐朝著直接測(cè)試表面絕緣電阻的方向發(fā)展。事實(shí)上,助焊劑殘?jiān)泻写罅康碾x子,局部萃取試驗(yàn)很快就超過(guò)了電阻率極限。在未清洗板上有幾種離子濃度很高??偟膩?lái)說(shuō),這是一個(gè)非常極端的比較,因?yàn)楦锌赡苁遣糠智逑炊皇峭耆辞逑?。這加強(qiáng)了必須清洗使用了水溶性焊錫膏組件的重要性。濕度過(guò)高可能影響電阻測(cè)試結(jié)果,需在干燥環(huán)境下進(jìn)行。東莞表面絕緣SIR電阻測(cè)試

電阻測(cè)試

    其次,GWLR-256的批量自動(dòng)化檢測(cè)能力極大地提高了焊點(diǎn)可靠性驗(yàn)證的效率。它支持256通道同時(shí)進(jìn)行掃描測(cè)試,并且配合功能強(qiáng)大的Windows系統(tǒng)軟件,能夠?qū)崿F(xiàn)整個(gè)測(cè)試流程的全自動(dòng)化操作。從測(cè)試參數(shù)設(shè)置、數(shù)據(jù)采集到結(jié)果分析,都無(wú)需人工過(guò)多干預(yù)。在大規(guī)模的電子制造生產(chǎn)線上,每天需要檢測(cè)的焊點(diǎn)數(shù)量數(shù)以萬(wàn)計(jì),如果采用傳統(tǒng)的人工檢測(cè)或者單通道測(cè)試設(shè)備,不僅效率低下,而且容易出現(xiàn)人為誤差。GWLR-256的批量自動(dòng)化檢測(cè)功能,使得單批次檢測(cè)時(shí)間相較于人工操作大幅縮短80%以上。這不僅**提高了生產(chǎn)效率,還確保了測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和一致性,有效提升了產(chǎn)線的良品率。此外,GWLR-256還具備強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理和分析能力。在焊點(diǎn)測(cè)試過(guò)程中,它能夠?qū)崟r(shí)生成詳細(xì)的電阻數(shù)據(jù),并通過(guò)內(nèi)置的算法對(duì)這些數(shù)據(jù)進(jìn)行深入分析。例如,通過(guò)對(duì)大量焊點(diǎn)電阻數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)分析,系統(tǒng)可以發(fā)現(xiàn)潛在的工藝問(wèn)題,如焊接溫度不均勻、焊錫量不足等。這些問(wèn)題可能在單個(gè)焊點(diǎn)的測(cè)試中不易被察覺(jué),但通過(guò)對(duì)大量數(shù)據(jù)的綜合分析,就能夠清晰地呈現(xiàn)出來(lái)。企業(yè)可以根據(jù)這些分析結(jié)果,及時(shí)調(diào)整生產(chǎn)工藝,優(yōu)化焊接參數(shù),進(jìn)一步提高焊點(diǎn)的質(zhì)量和可靠性。 海南智能電阻測(cè)試系統(tǒng)早期檢測(cè)可減少批量生產(chǎn)后的召回風(fēng)險(xiǎn),例如某汽車電子廠商通過(guò)CAF測(cè)試優(yōu)化基材選擇后,將故障率降低60%。

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助焊劑會(huì)涂敷在下圖1所示的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板上。標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試板是交錯(cuò)梳狀設(shè)計(jì),并模擬微電子學(xué)**小電氣間隙要求。然后按照助焊劑不同類型的要求進(jìn)行加熱。為了能通過(guò)測(cè)試,高活性的助焊劑在測(cè)試前需要被清洗掉。清洗不要在密閉的空間進(jìn)行。隨后帶有助焊劑殘留的樣板放置在潮濕的箱體內(nèi),以促進(jìn)梳狀線路之間枝晶的生長(zhǎng)。分別測(cè)試實(shí)驗(yàn)開(kāi)始和結(jié)束時(shí)的不同模塊線路的絕緣電阻值。第二次和***次測(cè)量值衰減低于10倍時(shí),測(cè)試結(jié)果視為通過(guò)。也就是說(shuō),通常測(cè)試阻值為10XΩ,X值必須保持不變。這個(gè)方法概括了幾種不同的助焊劑和工藝測(cè)試條件。當(dāng)金屬纖維絲在線路板表面以下生長(zhǎng)時(shí),稱為導(dǎo)電陽(yáng)極絲或CAF,本文中不會(huì)討論這種情況,但這也是一個(gè)熱門話題。當(dāng)電化學(xué)遷移發(fā)生在線路板的表面時(shí),它會(huì)導(dǎo)致線路之間的金屬枝晶狀生長(zhǎng),比較好使用表面絕緣電阻(SIR)進(jìn)行測(cè)試。

PCB(PrintedCircuitBoard)即印制電路板,又稱印刷線路板,是電子工業(yè)的關(guān)鍵部件。它由絕緣底板、連接導(dǎo)線和焊盤(pán)組成,能實(shí)現(xiàn)電子元器件間的電氣連接,還為元器件提供機(jī)械支撐。憑借可高密度化、高可靠性、可設(shè)計(jì)性、可生產(chǎn)性、可測(cè)試性、可組裝性和可維護(hù)性等優(yōu)勢(shì),PCB廣泛應(yīng)用于計(jì)算機(jī)、通信、汽車電子、醫(yī)療設(shè)備等眾多領(lǐng)域。從類型上看,按層數(shù)可分為單面板、雙面板和多層板;按軟硬程度分為剛性電路板、柔性電路板以及軟硬結(jié)合板。目前,PCB正朝著高密度、高精度、細(xì)孔徑、細(xì)導(dǎo)線、高可靠、多層化、高速傳輸、輕量薄型的方向發(fā)展。PCB層疊結(jié)構(gòu)分類,單層PCB結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,*一面有銅箔,成本低,用于簡(jiǎn)單電路雙層PCB有頂層和底層導(dǎo)電層,通過(guò)過(guò)孔相連,應(yīng)用***多層PCB包含多個(gè)導(dǎo)電層,通過(guò)層間過(guò)孔連接,集成度高電子制造業(yè):測(cè)試 PCB / 材料絕緣,保障產(chǎn)品良率。

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GWHR256為PCBA質(zhì)量把關(guān)》在追求零缺陷的電子制造行業(yè)中,預(yù)防總是優(yōu)于糾正。GWHR256系統(tǒng)憑借其高度智能化的設(shè)計(jì),不僅能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)測(cè),還能通過(guò)自檢功能確保自身的準(zhǔn)確性和穩(wěn)定性,為PCBA的生產(chǎn)過(guò)程加上了一道保險(xiǎn)鎖。在系統(tǒng)內(nèi)部,先進(jìn)的溫濕度監(jiān)測(cè)模塊,確保測(cè)試環(huán)境的恒定,排除外界因素對(duì)測(cè)試結(jié)果的干擾,讓每一次測(cè)試都準(zhǔn)確可靠?!经h(huán)境適應(yīng)性強(qiáng),操作便捷】考慮到實(shí)際生產(chǎn)環(huán)境的多樣性,GWHR256系統(tǒng)設(shè)計(jì)有良好的環(huán)境適應(yīng)性,能在不同溫濕度條件下穩(wěn)定工作,且配備有不間斷電源配置,保證測(cè)試連續(xù)性。其操作界面友好,數(shù)據(jù)可視化直觀,無(wú)論是曲線展示還是Excel格式導(dǎo)出,都能輕松實(shí)現(xiàn),為工程師提供高效、便捷的測(cè)試體驗(yàn)。在電路板上進(jìn)行電阻測(cè)試時(shí),需小心操作,避免短路相鄰元件。貴州多功能電阻測(cè)試服務(wù)電話

溫度循環(huán)從低溫開(kāi)始還是從高溫開(kāi)始,根據(jù)溫度臨界值和測(cè)試開(kāi)始時(shí)的溫度(來(lái)自溫度傳感器表面溫度)來(lái)判斷。東莞表面絕緣SIR電阻測(cè)試

    四線測(cè)試Four-Wire或4-WireTest,可以認(rèn)為是二線開(kāi)路測(cè)試的延伸版本,聚焦于PCB板每個(gè)網(wǎng)絡(luò)Net開(kāi)路Open的阻值。基本定義與原理四線測(cè)試4-WireTest通過(guò)分離激勵(lì)電流與電壓測(cè)量路徑,徹底消除導(dǎo)線電阻和接觸電阻的影響,實(shí)現(xiàn)毫歐mΩ級(jí)高精度測(cè)量。四線測(cè)試4-WireTest的**是基于歐姆定律(R=V/I),但通過(guò)**回路設(shè)計(jì)確保測(cè)量結(jié)果*反映被測(cè)物的真實(shí)電阻值。如下圖所示:通過(guò)測(cè)量被測(cè)元件R的阻值來(lái)判定對(duì)象R是否存在開(kāi)路問(wèn)題。R1和R2:連接被測(cè)元件或網(wǎng)絡(luò)的導(dǎo)線的電阻R3和R4:電壓表自帶的電阻,用來(lái)平衡導(dǎo)線的電阻R:被測(cè)元件V:電壓表A:電流表線法由來(lái)這種避免導(dǎo)線電阻引起誤差的測(cè)量方法被稱為開(kāi)爾文法或四線法。特殊的連接夾稱為開(kāi)爾文夾,是為了便于這種連接跨越受試者電阻:。 東莞表面絕緣SIR電阻測(cè)試