保定導(dǎo)熱底部填充劑廠(chǎng)家

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2022-01-07

底部填充膠進(jìn)行外觀(guān)檢查比較容易也很直觀(guān),但對(duì)于外觀(guān)良好的器件,底部填充是否有空洞、裂紋和分層等缺陷,檢測(cè)起來(lái)就比較復(fù)雜困難;圖17B所示為CSP器件填充良好的外觀(guān)。不過(guò),對(duì)于新型的填充膠水驗(yàn)證、兼容性實(shí)驗(yàn)或不良品分析,底部填充效果檢測(cè)必不可少。對(duì)此,有非破壞性檢測(cè)和破壞性檢查兩種方法,非破壞性底部填充異常檢測(cè),可以通過(guò)自動(dòng)聲波微成像分析技術(shù)。超聲波對(duì)于實(shí)心材質(zhì)幾乎是透明的,只有遇到類(lèi)似于裂縫或空洞異常時(shí),聲波檢測(cè)傳感器通過(guò)聲學(xué)成像系統(tǒng)工具,才能反映出相應(yīng)的異常狀況,并測(cè)量出與芯片底部與填充有關(guān)的機(jī)械缺陷。這種工具首先確定好區(qū)域單位,然后測(cè)量出每個(gè)單位區(qū)域內(nèi)的空洞、分層或裂紋,在聲學(xué)性質(zhì)所占的百分比。資料顯示,空洞與焊點(diǎn)接觸可能導(dǎo)致焊點(diǎn)失效,如果空洞很小又不靠近焊點(diǎn)可認(rèn)為合格,比如圖17C所示的空洞A是可接受的,而空洞B&C則不可接受。PCB板芯片底部填充點(diǎn)膠加工的優(yōu)點(diǎn)。保定導(dǎo)熱底部填充劑廠(chǎng)家

底部填充膠的常見(jiàn)問(wèn)題?原因和解決方法: 1、出現(xiàn)部分膠水不干的現(xiàn)象 問(wèn)題原因:這個(gè)問(wèn)題主要集中在一些維修板上,偶爾在一些正常板上也會(huì)出現(xiàn)。出現(xiàn)這個(gè)情況主要是由于助焊劑和膠水不能很好的相容造成,可以發(fā)現(xiàn)在正常板中如果在BGA四周有很多小電阻或其他小元件的話(huà),出現(xiàn)膠水不干的情況的幾率比較大,這是因?yàn)樾‰娮杌蛟系腻a膏在回流焊固化過(guò)程中,由于元件的密集,比較多的助焊劑殘留下來(lái),所以這部分是經(jīng)常出現(xiàn)膠水不干的。而維修板上因?yàn)樵诰S修過(guò)程中使用的助焊劑比較多,造成膠水不干的現(xiàn)象出現(xiàn)。 2、OSD板膠水不能滲進(jìn)去的現(xiàn)象 問(wèn)題原因:OSD板是一種特殊的PCB板,OSD板在PCB板上還鍍了一層類(lèi)似塑料的膜,本來(lái)這種類(lèi)型的板是為了不用underfill而設(shè)計(jì)的,但是可能設(shè)計(jì)還沒(méi)完全完善,所以客戶(hù)還是在使用underfill來(lái)保證可靠性。但是因?yàn)檫@種板的特殊性,在加熱情況下,膠水是不能滲到BGA中間,造成BGA中間空洞無(wú)膠水的現(xiàn)象。低應(yīng)力底部填充膠底部填充膠膠水如何填充芯片?

底部填充膠加熱之后可以固化,一般固化溫度在80℃-150℃。底部填充膠簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō)就是底部填充之義,常規(guī)定義是一種用化學(xué)膠水(主要成份是環(huán)氧樹(shù)脂)對(duì)BGA 封裝模式的芯片進(jìn)行底部填充,利用加熱的固化形式,將BGA 底部空隙大面積 (一般覆蓋一般覆蓋80%以上)填滿(mǎn),從而達(dá)到加固的目的。底部填充膠的應(yīng)用原理是利用毛細(xì)作用使得膠水迅速流過(guò)BGA 芯片底部芯片底部,其毛細(xì)流動(dòng)的較小空間是10um。這也符合了焊接工藝中焊盤(pán)和焊錫球之間的較低電氣特性要求,因?yàn)槟z水是不會(huì)流過(guò)低于4um的間隙,所以保障了焊接工藝的電氣安全特性。

芯片底部填充膠主要用于CSP/BGA 等倒裝芯片的補(bǔ)強(qiáng),提高電子產(chǎn)品的機(jī)械性能和可靠性。根據(jù)芯片組裝的要求,討論了底部填充膠在使用中的工藝要求以及缺陷分析方法。倒裝焊連接技術(shù)是目前半導(dǎo)體封裝的主流技術(shù)。倒裝芯片連接引線(xiàn)短,焊點(diǎn)直接與印刷線(xiàn)路板或其它基板焊接,引線(xiàn)電感小,信號(hào)間竄擾小,信號(hào)傳輸延時(shí)短,電性能好,是互連中延時(shí)*短、寄生效應(yīng)*小的一種互連方法。這些優(yōu)點(diǎn)使得倒裝芯片在便攜式設(shè)備輕薄、短小的要求下得到了快速發(fā)展。圖1 是在手機(jī)、平板電腦、電子書(shū)等便攜設(shè)備中常用的BGA/CSP 芯片結(jié)構(gòu)。BGA/CSP 的芯片引腳在元件的底部,成球柵矩陣排列,通過(guò)底部焊點(diǎn)與線(xiàn)路板進(jìn)行連接。在便攜式設(shè)備中的線(xiàn)路板通常較薄,硬度低,容易變形,細(xì)間距焊點(diǎn)強(qiáng)度小,因此芯片耐機(jī)械沖擊和熱沖擊差。底部填充膠利用加熱的固化形式,將BGA 底部空隙大面積 (一般覆蓋一般覆蓋80%以上)填滿(mǎn)。

底部填充膠的流動(dòng)性: 流動(dòng)性或者說(shuō)填充速度往往是客戶(hù)非常關(guān)注的一個(gè)指標(biāo),尤其是作為實(shí)際使用的SMT廠(chǎng)家,而實(shí)際對(duì)于可靠性要求非常高的一些行業(yè),這個(gè)倒是其次的。就目前SMT行業(yè)的普遍要求,一般在1~30分鐘理論上都是可接受的(當(dāng)然手機(jī)行業(yè)一般是在2-10分鐘以?xún)?nèi),有些甚至要求以秒計(jì),這個(gè)也需要結(jié)合芯片的大?。?。 測(cè)試方法:較簡(jiǎn)單的方法當(dāng)然是直接在芯片上點(diǎn)膠進(jìn)行測(cè)試,而且評(píng)估不同膠水的流動(dòng)性時(shí)較好是同時(shí)進(jìn)行平行測(cè)試(較好樣板數(shù)要5-10個(gè)以上)。在研發(fā)段對(duì)流動(dòng)性的測(cè)試就是用兩塊玻璃片間膠水的流動(dòng)速度來(lái)判斷研發(fā)方向的。底部填充膠對(duì)芯片及基材無(wú)腐蝕。鄂州低溫固化底部填充膠廠(chǎng)家

底部填充膠固化后通過(guò)芯片四周可以觀(guān)察到膠水表面情況。保定導(dǎo)熱底部填充劑廠(chǎng)家

助焊劑殘?jiān)蚱渌廴驹匆部赡芡ㄟ^(guò)多種途徑產(chǎn)生空洞,由過(guò)量助焊劑殘?jiān)鸬恼次鄢3?huì)造成不規(guī)則的隨機(jī)的膠流動(dòng)的變化,特別是互連凸點(diǎn)處。如果因膠流動(dòng)而產(chǎn)生的空洞具有這種特性,那么需要慎重地對(duì)清潔處理或污染源進(jìn)行研究。 在某些情況下,在底部填充膠(underfill)固化后助焊劑沾污會(huì)在施膠面相對(duì)的芯片面上以一連串小氣泡的形式出現(xiàn)。顯然,底部填充膠(underfill)流動(dòng)時(shí)將助焊劑推送到芯片的遠(yuǎn)端位置。 空洞分析策略: 先確定空洞產(chǎn)生于固化前還是固化后,有助于分析空洞的產(chǎn)生原因。 如果空洞在固化后出現(xiàn),可以排除流動(dòng)型空洞或由流體膠中氣泡引起的空洞兩種產(chǎn)生根源??梢灾攸c(diǎn)尋找水氣問(wèn)題和沾污問(wèn)題,固化過(guò)程中氣體釋放源問(wèn)題或者固化曲線(xiàn)問(wèn)題。 如果空洞在固化前或固化后呈現(xiàn)出的特性完全一致,這將清晰地表明某些底部填充膠(underfill)在流動(dòng)時(shí)產(chǎn)生空洞:他們會(huì)形成一種流動(dòng)阻塞效應(yīng),然后在固化過(guò)程中又會(huì)釋放氣體。保定導(dǎo)熱底部填充劑廠(chǎng)家

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