廣州氣候可靠性測試

電子元器件的可靠性直接影響電子產(chǎn)品的整體性能，聯(lián)華檢測采用先進(jìn)的篩選測試技術(shù)保障元器件質(zhì)量。通過電老化測試，對元器件施加高于額定工作電壓和電流的應(yīng)力，加速其老化過程，篩選出早期失效的器件。X 射線檢測技術(shù)則用于檢查元器件內(nèi)部的焊點(diǎn)質(zhì)量、引線鍵合情況，確保內(nèi)部連接的可靠性。此外，采用紅外熱成像技術(shù)，實(shí)時(shí)監(jiān)測元器件在工作狀態(tài)下的發(fā)熱情況，及時(shí)發(fā)現(xiàn)因接觸不良、功率損耗過大等問題導(dǎo)致的異常發(fā)熱點(diǎn)，有效提高電子產(chǎn)品的整體可靠性和穩(wěn)定性。環(huán)境應(yīng)力篩選融入可靠性測試，施加溫度、振動(dòng)應(yīng)力，剔除早期失效產(chǎn)品，提升整體質(zhì)量。廣州氣候可靠性測試

新能源電池 CCS 集成母排焊接拉力、剝離力測試：在新能源電池系統(tǒng)里，CCS 集成母排承擔(dān)電芯串并聯(lián)、信號(hào)采集重任，其焊接質(zhì)量關(guān)乎電池管理系統(tǒng)安全運(yùn)行。聯(lián)華檢測采用拉力機(jī)對 CCS 集成母排的焊接處進(jìn)行拉力、剝離力測試。針對鎳片與鋁巴焊接部位，精細(xì)控制拉力機(jī)拉伸速度與方向，施加拉力直至焊接部位出現(xiàn)變形或斷裂，記錄此時(shí)拉力數(shù)值。同時(shí)，模擬實(shí)際使用中的振動(dòng)、高負(fù)載工況，重復(fù)測試。如在對某新能源汽車電池 CCS 集成母排測試時(shí)，發(fā)現(xiàn)部分焊接處拉力未達(dá)標(biāo)準(zhǔn)，在模擬振動(dòng)環(huán)境下，焊接部位出現(xiàn)松動(dòng)，導(dǎo)致電阻增大，影響電池性能。經(jīng)深入分析，是焊接工藝參數(shù)設(shè)置不當(dāng)，致使焊接強(qiáng)度不足。通過此類測試，可確保母排材料及焊接處有足夠抗拉強(qiáng)度，為新能源電池系統(tǒng)可靠性提供保障。長寧區(qū)電子電器環(huán)境可靠性測試公司數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)分析機(jī)械測試數(shù)據(jù)，評估可靠性，找關(guān)鍵影響因素。

高溫老化測試：電子產(chǎn)品在長期使用中可能會(huì)面臨高溫環(huán)境，如夏天車內(nèi)電子設(shè)備、服務(wù)器機(jī)房內(nèi)的電子元件等。高溫老化測試能有效評估產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。聯(lián)華檢測開展此項(xiàng)測試時(shí)，會(huì)將待測產(chǎn)品放置于可精細(xì)控溫的高溫試驗(yàn)箱內(nèi)。針對不同電子產(chǎn)品的使用場景與相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，設(shè)置對應(yīng)的溫度，像常見的消費(fèi)級電子產(chǎn)品，溫度一般設(shè)置為 70℃、85℃等。測試持續(xù)時(shí)長從數(shù)小時(shí)至數(shù)天各有不同，消費(fèi)級電子產(chǎn)品的測試時(shí)長通常設(shè)定為 48 小時(shí)。在測試期間，借助專業(yè)監(jiān)測設(shè)備實(shí)時(shí)采集產(chǎn)品的各項(xiàng)性能數(shù)據(jù)，例如電氣參數(shù)中的電壓、電流、電阻值，以及功能運(yùn)行狀態(tài)，包括產(chǎn)品的各項(xiàng)功能是否能正常實(shí)現(xiàn)、運(yùn)行是否穩(wěn)定等。以某款手機(jī)主板的高溫老化測試為例，在測試過程中，隨著時(shí)間的推移，通過專業(yè)設(shè)備監(jiān)測到主板上部分電容的容值出現(xiàn)漂移現(xiàn)象，進(jìn)而導(dǎo)致手機(jī)充電速度明顯變慢。經(jīng)進(jìn)一步分析，確定是高溫影響了電容的性能穩(wěn)定性?；诖藴y試結(jié)果，后續(xù)可對電容選型進(jìn)行優(yōu)化，選用耐高溫性能更好的電容，或者改進(jìn)主板的散熱設(shè)計(jì)，增強(qiáng)散熱效果，以此保障產(chǎn)品在高溫環(huán)境下能夠穩(wěn)定運(yùn)行，提升產(chǎn)品質(zhì)量。

PCB 板 CAF 測試：當(dāng) PCB 板板面線路或板內(nèi)金屬通孔間距過近，在高溫高濕環(huán)境下，板材吸濕后，相鄰銅線或孔壁高低電壓電極間會(huì)出現(xiàn)電化性遷移之絕緣劣化情形，即導(dǎo)電陽極絲（CAF）。CAF 現(xiàn)象會(huì)導(dǎo)致絕緣層劣化，甚至短路，嚴(yán)重影響設(shè)備性能和安全，在汽車電子、航空航天等高可靠性領(lǐng)域必須進(jìn)行專項(xiàng)驗(yàn)證。聯(lián)華檢測在 CAF 專項(xiàng)檢測方面處于行業(yè)專業(yè)水準(zhǔn)，擁有 16 臺(tái)多通道 SIR/CAF 實(shí)時(shí)監(jiān)控測試系統(tǒng)，可實(shí)現(xiàn) 4000 + 通道同時(shí)量測。測試依據(jù) IPC-TM-650 標(biāo)準(zhǔn)，在 85°C/85% RH 環(huán)境下施加偏壓，持續(xù) 240-1000 小時(shí)，若阻值降至≤10?Ω 或下降 10 倍則判定為不合格，通過該測試能幫助企業(yè)定位 PCB 板絕緣失效風(fēng)險(xiǎn)。扭轉(zhuǎn)測試針對傳動(dòng)部件，分析扭矩下應(yīng)力變形，確保船舶傳動(dòng)軸可靠。

電子芯片高低溫存儲(chǔ)測試：電子芯片在不同應(yīng)用場景下，面臨多樣的溫度環(huán)境。像汽車電子芯片，冬天車輛啟動(dòng)時(shí)芯片處于低溫環(huán)境，而在發(fā)動(dòng)機(jī)艙高溫工作時(shí)，芯片又要承受高溫。聯(lián)華檢測開展的高低溫存儲(chǔ)測試，能精細(xì)模擬此類極端溫度條件。測試時(shí)，將芯片放置于可精細(xì)控溫的高低溫試驗(yàn)箱內(nèi)，按照芯片的使用環(huán)境要求，設(shè)置低溫如 - 40℃，高溫如 150℃，并讓芯片在相應(yīng)溫度下存儲(chǔ)一定時(shí)長，如 48 小時(shí)或更長。期間，運(yùn)用高精度的電學(xué)參數(shù)測試設(shè)備，在測試前后對芯片的關(guān)鍵電氣參數(shù)，如閾值電壓、漏電流、邏輯功能等進(jìn)行精確測量。曾經(jīng)有一款手機(jī)處理器芯片，在經(jīng)過高溫 125℃存儲(chǔ)測試后，出現(xiàn)部分邏輯門電路功能異常的情況。經(jīng)聯(lián)華檢測專業(yè)分析，是芯片內(nèi)部的金屬互連結(jié)構(gòu)在高溫下發(fā)生了輕微的原子遷移，導(dǎo)致電路連接性能下降?；谶@樣的測試結(jié)果，芯片設(shè)計(jì)廠商可針對性地優(yōu)化芯片制造工藝，如改進(jìn)金屬互連材料或調(diào)整芯片的散熱設(shè)計(jì)，從而提升芯片在不同溫度存儲(chǔ)環(huán)境下的可靠性，保障搭載該芯片的電子產(chǎn)品穩(wěn)定運(yùn)行。疲勞測試搭配環(huán)境可靠性測試，在高低溫環(huán)境下監(jiān)測葉片，保障飛機(jī)飛行安全?；葜輾飧煽啃詼y試哪個(gè)好

憑借高精度的校準(zhǔn)設(shè)備和專業(yè)校準(zhǔn)流程，能保障測試設(shè)備始終準(zhǔn)確，進(jìn)而提升可靠性測試數(shù)據(jù)的可靠性。廣州氣候可靠性測試

跌落測試：跌落測試主要模擬消費(fèi)電子產(chǎn)品在日常使用中可能受到的跌落情況，以此檢測產(chǎn)品的抗跌落能力。聯(lián)華檢測在進(jìn)行跌落測試時(shí)，根據(jù)產(chǎn)品的類型和使用場景確定跌落高度、跌落角度以及跌落次數(shù)等參數(shù)。例如，對于手機(jī)、平板電腦等手持設(shè)備，通常模擬其從正常使用高度意外跌落的情況。將產(chǎn)品放置在跌落試驗(yàn)機(jī)上，按照設(shè)定的參數(shù)進(jìn)行跌落試驗(yàn)。在每次跌落后，檢查產(chǎn)品的外觀是否有損壞，功能是否正常，如屏幕是否破裂、按鍵是否失靈、內(nèi)部零部件是否松動(dòng)等。跌落測試結(jié)果能夠幫助企業(yè)改進(jìn)產(chǎn)品的外殼設(shè)計(jì)、內(nèi)部結(jié)構(gòu)布局以及緩沖材料的選擇，提高產(chǎn)品的抗跌落性能和可靠性。廣州氣候可靠性測試