常州溫度沖擊可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù)

來(lái)源: 發(fā)布時(shí)間:2025-07-22

新能源電池 CCS 集成母排焊接拉力、剝離力測(cè)試:在新能源電池系統(tǒng)里,CCS 集成母排承擔(dān)電芯串并聯(lián)、信號(hào)采集重任,其焊接質(zhì)量關(guān)乎電池管理系統(tǒng)安全運(yùn)行。聯(lián)華檢測(cè)采用拉力機(jī)對(duì) CCS 集成母排的焊接處進(jìn)行拉力、剝離力測(cè)試。針對(duì)鎳片與鋁巴焊接部位,精細(xì)控制拉力機(jī)拉伸速度與方向,施加拉力直至焊接部位出現(xiàn)變形或斷裂,記錄此時(shí)拉力數(shù)值。同時(shí),模擬實(shí)際使用中的振動(dòng)、高負(fù)載工況,重復(fù)測(cè)試。如在對(duì)某新能源汽車電池 CCS 集成母排測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)部分焊接處拉力未達(dá)標(biāo)準(zhǔn),在模擬振動(dòng)環(huán)境下,焊接部位出現(xiàn)松動(dòng),導(dǎo)致電阻增大,影響電池性能。經(jīng)深入分析,是焊接工藝參數(shù)設(shè)置不當(dāng),致使焊接強(qiáng)度不足。通過(guò)此類測(cè)試,可確保母排材料及焊接處有足夠抗拉強(qiáng)度,為新能源電池系統(tǒng)可靠性提供保障。電磁兼容性測(cè)試保障自動(dòng)化 PLC 復(fù)雜電磁環(huán)境正常工作。常州溫度沖擊可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù)

常州溫度沖擊可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù),可靠性測(cè)試

電子芯片高溫反偏測(cè)試:電子芯片在各類電子產(chǎn)品里是專業(yè)部件,像手機(jī)、電腦等設(shè)備的運(yùn)行都依賴芯片。在高溫且有偏壓的工作環(huán)境下,芯片可靠性面臨考驗(yàn)。廣州聯(lián)華檢測(cè)開(kāi)展高溫反偏測(cè)試,將芯片置于高溫試驗(yàn)箱,溫度常設(shè)定在 125℃,模擬芯片在高溫環(huán)境下工作,同時(shí)在芯片引腳施加反向偏置電壓。測(cè)試過(guò)程中,運(yùn)用高精度電流測(cè)量?jī)x,對(duì)芯片漏電流進(jìn)行不間斷監(jiān)測(cè)。因?yàn)楦邷睾头聪蚱珘簳?huì)加速芯片內(nèi)部缺陷暴露,漏電流一旦異常,就預(yù)示芯片可能出現(xiàn)問(wèn)題。例如某款電腦 CPU 芯片在測(cè)試 500 小時(shí)后,漏電流數(shù)值開(kāi)始上升,經(jīng)微觀分析,是芯片內(nèi)部晶體管的柵氧化層出現(xiàn)極細(xì)微***,導(dǎo)致電子有額外泄漏路徑。通過(guò)聯(lián)華檢測(cè)的此項(xiàng)測(cè)試,芯片制造商能提前察覺(jué)隱患,改進(jìn)芯片制造工藝,如優(yōu)化氧化層生長(zhǎng)條件,讓芯片在高溫工作環(huán)境下更穩(wěn)定可靠,保障電子產(chǎn)品長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。普陀區(qū)溫度沖擊可靠性測(cè)試大概價(jià)格可靠性測(cè)試中的加速壽命試驗(yàn),通過(guò)提高應(yīng)力水平縮短測(cè)試時(shí)間,預(yù)測(cè)產(chǎn)品正常使用的壽命。

常州溫度沖擊可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù),可靠性測(cè)試

汽車線束作為汽車電氣系統(tǒng)的關(guān)鍵連接部分,在車輛運(yùn)行過(guò)程中,可能接觸到各類化學(xué)試劑,如發(fā)動(dòng)機(jī)艙內(nèi)的機(jī)油、冷卻液,以及車輛外部的雨水、除冰劑等。這些化學(xué)試劑一旦對(duì)線束的絕緣層和導(dǎo)體造成侵蝕,會(huì)引發(fā)電氣短路、斷路等故障,嚴(yán)重影響車輛的安全性與穩(wěn)定性。聯(lián)華檢測(cè)為汽車線束制造商提供專業(yè)的耐化學(xué)試劑測(cè)試服務(wù)。測(cè)試人員依據(jù)汽車實(shí)際使用場(chǎng)景中可能接觸到的化學(xué)試劑種類,準(zhǔn)備相應(yīng)的試劑樣本,如常見(jiàn)的機(jī)油、冷卻液、不同濃度的鹽水等。將汽車線束的樣本分別浸泡在這些化學(xué)試劑中,按照標(biāo)準(zhǔn)要求控制浸泡時(shí)間,從數(shù)小時(shí)到數(shù)周不等。在浸泡過(guò)程中和浸泡結(jié)束后,使用專業(yè)設(shè)備對(duì)線束進(jìn)行專業(yè)檢測(cè)。例如,利用絕緣電阻測(cè)試儀測(cè)量線束絕緣層的電阻值,查看是否因化學(xué)試劑侵蝕而降低;通過(guò)導(dǎo)通性測(cè)試設(shè)備,檢測(cè)線束導(dǎo)體的導(dǎo)通情況,判斷是否出現(xiàn)腐蝕斷路現(xiàn)象。曾有一批汽車發(fā)動(dòng)機(jī)艙線束,在經(jīng)過(guò)機(jī)油浸泡測(cè)試后,絕緣電阻大幅下降,進(jìn)一步檢查發(fā)現(xiàn)絕緣層出現(xiàn)溶脹、變軟現(xiàn)象。經(jīng)分析,是絕緣材料與機(jī)油的兼容性不佳。聯(lián)華檢測(cè)將詳細(xì)的測(cè)試數(shù)據(jù)與分析結(jié)果反饋給制造商,幫助其優(yōu)化線束絕緣材料選型,提高汽車線束在復(fù)雜化學(xué)環(huán)境下的可靠性,降低汽車電氣系統(tǒng)故障風(fēng)險(xiǎn)。

高溫老化測(cè)試:電子產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能會(huì)面臨高溫環(huán)境,如夏天車內(nèi)電子設(shè)備、服務(wù)器機(jī)房?jī)?nèi)的電子元件等。高溫老化測(cè)試能有效評(píng)估產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。聯(lián)華檢測(cè)開(kāi)展此項(xiàng)測(cè)試時(shí),會(huì)將待測(cè)產(chǎn)品放置于可精細(xì)控溫的高溫試驗(yàn)箱內(nèi)。針對(duì)不同電子產(chǎn)品的使用場(chǎng)景與相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范,設(shè)置對(duì)應(yīng)的溫度,像常見(jiàn)的消費(fèi)級(jí)電子產(chǎn)品,溫度一般設(shè)置為 70℃、85℃等。測(cè)試持續(xù)時(shí)長(zhǎng)從數(shù)小時(shí)至數(shù)天各有不同,消費(fèi)級(jí)電子產(chǎn)品的測(cè)試時(shí)長(zhǎng)通常設(shè)定為 48 小時(shí)。在測(cè)試期間,借助專業(yè)監(jiān)測(cè)設(shè)備實(shí)時(shí)采集產(chǎn)品的各項(xiàng)性能數(shù)據(jù),例如電氣參數(shù)中的電壓、電流、電阻值,以及功能運(yùn)行狀態(tài),包括產(chǎn)品的各項(xiàng)功能是否能正常實(shí)現(xiàn)、運(yùn)行是否穩(wěn)定等。以某款手機(jī)主板的高溫老化測(cè)試為例,在測(cè)試過(guò)程中,隨著時(shí)間的推移,通過(guò)專業(yè)設(shè)備監(jiān)測(cè)到主板上部分電容的容值出現(xiàn)漂移現(xiàn)象,進(jìn)而導(dǎo)致手機(jī)充電速度明顯變慢。經(jīng)進(jìn)一步分析,確定是高溫影響了電容的性能穩(wěn)定性?;诖藴y(cè)試結(jié)果,后續(xù)可對(duì)電容選型進(jìn)行優(yōu)化,選用耐高溫性能更好的電容,或者改進(jìn)主板的散熱設(shè)計(jì),增強(qiáng)散熱效果,以此保障產(chǎn)品在高溫環(huán)境下能夠穩(wěn)定運(yùn)行,提升產(chǎn)品質(zhì)量。疲勞測(cè)試搭配環(huán)境可靠性測(cè)試,在高低溫環(huán)境下監(jiān)測(cè)葉片,保障飛機(jī)飛行安全。

常州溫度沖擊可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù),可靠性測(cè)試

電子芯片高溫高濕偏壓(HTHB)測(cè)試:電子芯片廣泛應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品,其在復(fù)雜環(huán)境下的可靠性至關(guān)重要。聯(lián)華檢測(cè)開(kāi)展的 HTHB 測(cè)試,模擬芯片在高溫且高濕度環(huán)境中同時(shí)承受偏壓的工況。測(cè)試時(shí),把芯片放置于可精細(xì)調(diào)控溫濕度的試驗(yàn)箱內(nèi),設(shè)定高溫如 85℃,相對(duì)濕度達(dá) 85%,并在芯片引腳施加規(guī)定偏置電壓。整個(gè)測(cè)試持續(xù)數(shù)百甚至上千小時(shí),其間利用高精度的電流、電壓監(jiān)測(cè)儀器,不間斷采集芯片的電氣參數(shù)。由于高溫高濕環(huán)境易使芯片封裝材料吸水膨脹,偏壓又會(huì)加劇內(nèi)部電子遷移,可能引發(fā)短路、開(kāi)路等故障。例如某品牌手機(jī)芯片在經(jīng) 500 小時(shí)測(cè)試后,出現(xiàn)部分引腳漏電現(xiàn)象,經(jīng)微觀分析發(fā)現(xiàn)是封裝與芯片間的縫隙讓水汽侵入,腐蝕了內(nèi)部電路。通過(guò)這類測(cè)試,能助力芯片制造商改進(jìn)封裝工藝、優(yōu)化材料選擇,確保芯片在嚴(yán)苛環(huán)境下穩(wěn)定運(yùn)行,提升電子產(chǎn)品整體可靠性。疲勞測(cè)試結(jié)合環(huán)境可靠性測(cè)試,控制載荷測(cè)試葉片在高低溫環(huán)境下的疲勞。深圳環(huán)境可靠性測(cè)試檢測(cè)

醫(yī)療器械可靠性測(cè)試著重生物相容性評(píng)估,確保產(chǎn)品與人體接觸安全,守護(hù)患者健康。常州溫度沖擊可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù)

通信基站設(shè)備大多安裝在戶外,長(zhǎng)期經(jīng)受日曬、雨淋、風(fēng)沙、高低溫變化等惡劣氣候條件的考驗(yàn),其耐候性直接影響通信網(wǎng)絡(luò)的穩(wěn)定性和可靠性。廣州聯(lián)華檢測(cè)為通信設(shè)備制造商提供專業(yè)的耐候性測(cè)試服務(wù)。測(cè)試時(shí),將通信基站設(shè)備的關(guān)鍵部件,如天線、射頻模塊等,放置于大型多功能耐候性試驗(yàn)箱內(nèi)。該試驗(yàn)箱能夠模擬多種自然環(huán)境因素,通過(guò)氙燈模擬太陽(yáng)輻射,精確控制光照強(qiáng)度和光譜分布,真實(shí)再現(xiàn)陽(yáng)光中的紫外線對(duì)設(shè)備的影響;利用噴淋系統(tǒng)模擬雨水沖刷,可控制噴淋的強(qiáng)度、時(shí)間和頻率;通過(guò)溫濕度控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)溫度和濕度的快速變化,模擬晝夜溫差和潮濕天氣。在測(cè)試過(guò)程中,聯(lián)華檢測(cè)定期對(duì)通信基站設(shè)備的各項(xiàng)性能進(jìn)行檢測(cè)。例如,使用頻譜分析儀測(cè)量射頻模塊的信號(hào)發(fā)射和接收性能,查看是否因環(huán)境因素影響而出現(xiàn)信號(hào)衰減、失真等問(wèn)題;通過(guò)外觀檢查,觀察天線外殼是否出現(xiàn)褪色、開(kāi)裂、變形,內(nèi)部電路連接部位是否因受潮、腐蝕而出現(xiàn)接觸不良等情況。曾有一款通信基站天線在經(jīng)過(guò) 800 小時(shí)的耐候性測(cè)試后,信號(hào)增益下降了 10%,天線外殼出現(xiàn)明顯褪色和輕微開(kāi)裂。聯(lián)華檢測(cè)深入分析測(cè)試數(shù)據(jù),確定是天線外殼材料的耐紫外線性能不足、防護(hù)涂層的防水防腐性能欠佳。常州溫度沖擊可靠性測(cè)試技術(shù)服務(wù)