金屬材料氫脆敏感性測(cè)試:金屬材料在加工、使用中,尤其在電鍍、酸洗等表面處理工藝及含氫環(huán)境里,易吸收氫原子產(chǎn)生氫脆現(xiàn)象,使材料韌性和強(qiáng)度下降,嚴(yán)重時(shí)導(dǎo)致材料突然斷裂,引發(fā)安全事故。廣州聯(lián)華檢測(cè)為金屬材料生產(chǎn)企業(yè)、機(jī)械制造企業(yè)等提供專業(yè)金屬材料氫脆敏感性測(cè)試服務(wù)。測(cè)試時(shí),根據(jù)金屬材料種類、應(yīng)用場(chǎng)景及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)要求,選擇合適測(cè)試方法。對(duì)高強(qiáng)度鋼這類對(duì)氫脆敏感的材料,常采用慢應(yīng)變速率拉伸試驗(yàn)(SSRT)。將預(yù)處理(模擬實(shí)際加工過程中氫吸收步驟)后的金屬材料試樣裝在慢應(yīng)變速率拉伸試驗(yàn)機(jī)上,以緩慢恒定速率對(duì)試樣施加拉伸載荷,同時(shí)精確測(cè)量試樣拉伸過程中的應(yīng)力、應(yīng)變數(shù)據(jù)。通過分析應(yīng)力 - 應(yīng)變曲線變化,并與未進(jìn)行氫處理的標(biāo)準(zhǔn)試樣對(duì)比,評(píng)估金屬材料氫脆敏感性。比如在對(duì)某航空發(fā)動(dòng)機(jī)關(guān)鍵零部件用高強(qiáng)度合金鋼進(jìn)行氫脆敏感性測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)經(jīng)模擬電鍍含氫環(huán)境處理后的試樣,斷裂伸長(zhǎng)率明顯降低,斷口呈現(xiàn)典型氫脆斷裂特征。聯(lián)華檢測(cè)為企業(yè)提供詳細(xì)測(cè)試報(bào)告,分析氫脆產(chǎn)生原因,給出改進(jìn)建議,如優(yōu)化電鍍工藝減少氫吸收、采用合適去氫處理方法等,幫助企業(yè)提高金屬材料在含氫環(huán)境下的可靠性,保障產(chǎn)品安全使用。電子產(chǎn)品可靠性測(cè)試常包含靜電放電測(cè)試,模擬日常靜電干擾,確保產(chǎn)品抗干擾性能。汕頭電子電器環(huán)境可靠性測(cè)試檢測(cè)公司
機(jī)械傳動(dòng)部件扭轉(zhuǎn)測(cè)試:在機(jī)械傳動(dòng)系統(tǒng)中,傳動(dòng)軸、聯(lián)軸器等部件會(huì)承受扭轉(zhuǎn)力。聯(lián)華檢測(cè)針對(duì)此類部件開展扭轉(zhuǎn)測(cè)試,通過扭矩試驗(yàn)機(jī)對(duì)其施加不同大小的扭矩,模擬實(shí)際工作中的扭轉(zhuǎn)工況。測(cè)試過程中,測(cè)量部件的扭轉(zhuǎn)角度、扭矩 - 轉(zhuǎn)角曲線等數(shù)據(jù),分析部件在扭轉(zhuǎn)力作用下的應(yīng)力分布和變形情況。例如對(duì)于船舶的螺旋槳傳動(dòng)軸,通過扭轉(zhuǎn)測(cè)試可評(píng)估其在高速旋轉(zhuǎn)和不同負(fù)載下的可靠性,幫助企業(yè)了解部件性能,避免因傳動(dòng)軸故障導(dǎo)致船舶航行事故,為機(jī)械傳動(dòng)系統(tǒng)的穩(wěn)定運(yùn)行提供保障。崇明區(qū)防水可靠性測(cè)試平**善質(zhì)量控制體系貫穿測(cè)試全程,確保測(cè)試服務(wù)高質(zhì)量。
電子芯片高低溫存儲(chǔ)測(cè)試:電子芯片在不同應(yīng)用場(chǎng)景下,面臨多樣的溫度環(huán)境。像汽車電子芯片,冬天車輛啟動(dòng)時(shí)芯片處于低溫環(huán)境,而在發(fā)動(dòng)機(jī)艙高溫工作時(shí),芯片又要承受高溫。聯(lián)華檢測(cè)開展的高低溫存儲(chǔ)測(cè)試,能精細(xì)模擬此類極端溫度條件。測(cè)試時(shí),將芯片放置于可精細(xì)控溫的高低溫試驗(yàn)箱內(nèi),按照芯片的使用環(huán)境要求,設(shè)置低溫如 - 40℃,高溫如 150℃,并讓芯片在相應(yīng)溫度下存儲(chǔ)一定時(shí)長(zhǎng),如 48 小時(shí)或更長(zhǎng)。期間,運(yùn)用高精度的電學(xué)參數(shù)測(cè)試設(shè)備,在測(cè)試前后對(duì)芯片的關(guān)鍵電氣參數(shù),如閾值電壓、漏電流、邏輯功能等進(jìn)行精確測(cè)量。曾經(jīng)有一款手機(jī)處理器芯片,在經(jīng)過高溫 125℃存儲(chǔ)測(cè)試后,出現(xiàn)部分邏輯門電路功能異常的情況。經(jīng)聯(lián)華檢測(cè)專業(yè)分析,是芯片內(nèi)部的金屬互連結(jié)構(gòu)在高溫下發(fā)生了輕微的原子遷移,導(dǎo)致電路連接性能下降?;谶@樣的測(cè)試結(jié)果,芯片設(shè)計(jì)廠商可針對(duì)性地優(yōu)化芯片制造工藝,如改進(jìn)金屬互連材料或調(diào)整芯片的散熱設(shè)計(jì),從而提升芯片在不同溫度存儲(chǔ)環(huán)境下的可靠性,保障搭載該芯片的電子產(chǎn)品穩(wěn)定運(yùn)行。
新能源汽車電池管理系統(tǒng)線路板振動(dòng)測(cè)試:新能源汽車電池管理系統(tǒng)(BMS)的線路板對(duì)車輛的動(dòng)力輸出和安全至關(guān)重要。在車輛行駛過程中,電池管理系統(tǒng)線路板要承受來自路面顛簸、電機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)等產(chǎn)生的持續(xù)振動(dòng)。廣州聯(lián)華檢測(cè)為新能源汽車制造商提供針對(duì)電池管理系統(tǒng)線路板的振動(dòng)測(cè)試服務(wù)。測(cè)試人員將線路板固定在專業(yè)的振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)上,該試驗(yàn)臺(tái)能夠精確模擬不同路況下車輛的振動(dòng)情況,可精細(xì)調(diào)控振動(dòng)頻率、振幅和方向等參數(shù)。在測(cè)試期間,工作人員在電池管理系統(tǒng)線路板的關(guān)鍵焊點(diǎn)、線路連接部位粘貼應(yīng)變片,用于監(jiān)測(cè)振動(dòng)過程中這些部位的應(yīng)力變化;同時(shí),利用加速度傳感器測(cè)量線路板整體的振動(dòng)加速度。比如在模擬車輛行駛 5 萬公里復(fù)雜路況的振動(dòng)工況后,發(fā)現(xiàn)部分焊點(diǎn)出現(xiàn)微小裂紋,線路連接電阻增大,導(dǎo)致電池管理系統(tǒng)對(duì)電池狀態(tài)的監(jiān)測(cè)出現(xiàn)偏差。經(jīng)聯(lián)華檢測(cè)分析,是焊點(diǎn)設(shè)計(jì)和焊接工藝在長(zhǎng)期振動(dòng)下存在不足。據(jù)此,新能源汽車制造商可優(yōu)化線路板焊點(diǎn)設(shè)計(jì),改進(jìn)焊接工藝,增強(qiáng)電池管理系統(tǒng)線路板在復(fù)雜振動(dòng)環(huán)境下的可靠性,確保新能源汽車電池管理系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)行,提升新能源汽車的整體性能和安全性。沖擊測(cè)試融合環(huán)境可靠性測(cè)試,模擬極端溫度沖擊,檢測(cè)工程機(jī)械抗沖擊能力。
彎曲測(cè)試:彎曲測(cè)試主要評(píng)估產(chǎn)品的抗彎性能。聯(lián)華檢測(cè)在進(jìn)行彎曲測(cè)試時(shí),根據(jù)產(chǎn)品的形狀和尺寸選擇合適的彎曲試驗(yàn)方法,如三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)、四點(diǎn)彎曲試驗(yàn)等。以三點(diǎn)彎曲試驗(yàn)為例,將產(chǎn)品試樣放置在兩個(gè)支撐點(diǎn)上,在試樣的中間位置施加集中載荷,使試樣產(chǎn)生彎曲變形。通過測(cè)量試樣在不同載荷下的彎曲撓度以及觀察試樣是否出現(xiàn)裂紋、斷裂等情況,來評(píng)估產(chǎn)品的抗彎性能。例如,對(duì)于金屬板材、塑料管材等產(chǎn)品,彎曲測(cè)試能夠檢驗(yàn)其在承受彎曲力時(shí)的性能表現(xiàn)。彎曲測(cè)試結(jié)果有助于企業(yè)了解產(chǎn)品在彎曲工況下的可靠性,為產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和材料選擇提供參考依據(jù)。建筑起重機(jī)結(jié)構(gòu)件測(cè)試,保障重載頻繁起吊作業(yè)安全與穩(wěn)定。氣腐可靠性測(cè)試哪個(gè)好
磨損測(cè)試模擬汽車活塞環(huán)摩擦,優(yōu)化工藝,提升發(fā)動(dòng)機(jī)可靠性與經(jīng)濟(jì)性。汕頭電子電器環(huán)境可靠性測(cè)試檢測(cè)公司
電子產(chǎn)品高溫老化測(cè)試:電子產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中可能會(huì)面臨高溫環(huán)境,如夏天車內(nèi)電子設(shè)備、服務(wù)器機(jī)房?jī)?nèi)的電子元件等。聯(lián)華檢測(cè)開展高溫老化測(cè)試以評(píng)估產(chǎn)品在高溫環(huán)境下的性能穩(wěn)定性。將待測(cè)產(chǎn)品放置于高溫試驗(yàn)箱內(nèi),對(duì)于常見電子產(chǎn)品,一般設(shè)置溫度為 70℃、85℃等,消費(fèi)級(jí)電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)長(zhǎng)通常為 48 小時(shí)。測(cè)試期間,使用專業(yè)監(jiān)測(cè)設(shè)備實(shí)時(shí)采集產(chǎn)品的電氣參數(shù)、功能運(yùn)行狀態(tài)等數(shù)據(jù)。如對(duì)某款手機(jī)主板進(jìn)行測(cè)試時(shí),發(fā)現(xiàn)隨著時(shí)間推移,主板上部分電容容值出現(xiàn)漂移,導(dǎo)致手機(jī)充電速度變慢,據(jù)此可優(yōu)化電容選型或主板散熱設(shè)計(jì),提升產(chǎn)品高溫環(huán)境下的可靠性。汕頭電子電器環(huán)境可靠性測(cè)試檢測(cè)公司