光譜范圍:系統(tǒng)覆蓋 250-2500 nm 的光譜范圍。角度分辨率:系統(tǒng)提供高達 0.01° 的角度分辨率。自動測量功能測量模式設置:用戶可以通過軟件設置測量模式(如反射、透射、散射等),系統(tǒng)將自動完成測量。角度范圍設置:用戶可以設置入射角和接收角的范圍,系統(tǒng)將自動掃描并記錄數(shù)據(jù)。循環(huán)測量:系統(tǒng)支持循環(huán)測量,用戶可以設置循環(huán)次數(shù),系統(tǒng)將自動重復測量。積分時間設置:用戶可以設置積分時間,系統(tǒng)將自動調整以優(yōu)化測量結果。ProSp 角分辨測試系統(tǒng)憑借其高角度分辨率、全光譜測量能力和多種測量模式,成為材料科學和光學研究中的理想選擇。共聚焦激光掃描顯微系統(tǒng):如 ProSp-Con50i,用于高分辨率成像。海南透射測量專譜光電測量系統(tǒng)
ProSp 標壓系統(tǒng):功能與應用ProSp 標壓系統(tǒng)(如 SPL-Micro2000)是一種高性能的顯微光譜測量系統(tǒng),廣泛應用于材料科學、生物醫(yī)學和環(huán)境監(jiān)測等領域。以下是其主要功能和應用:1. 系統(tǒng)特點多功能集成:ProSp 標壓系統(tǒng)集成了熒光、拉曼和反射光譜測量功能,能夠實現(xiàn)多種光譜測量。模塊化設計:系統(tǒng)采用模塊化設計,用戶可以根據(jù)需要選擇不同的光譜儀、激光器和顯微鏡。立式結構:利用成熟的商業(yè)顯微鏡,增加光譜測量模塊,可以通過撥桿切換實現(xiàn)熒光標壓和拉曼標壓。操作便捷:系統(tǒng)操作簡單,用戶可以通過軟件控制光譜數(shù)據(jù)采集和 CCD 數(shù)據(jù)采集。北京薄膜材料專譜光電設備穩(wěn)光譜穩(wěn)功率的半導體激光器作為激光光源,通過穩(wěn)定可靠的熒光探頭來采集激光誘導熒光的便攜式光譜儀。
ProSp 角分辨測試系統(tǒng)(ProSp-RTM-UV/VIS)靈活的光源選擇:自帶鎢燈光源和外接光源可擴展性:可以在光路中增加濾波片、偏振片、波片等光學器件應用領域微納光學:研究微納結構材料和器件的光學特性材料學:分析薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件等生物技術:用于生物樣品的光譜分析礦物分析:檢測礦物的反射率和透射率防偽技術:用于紙幣防偽檢測LED 光源:評估 LED 光源的光譜特性液晶顯示:研究液晶顯示材料的光學性能材料鍍膜:分析材料表面鍍膜的光學特性
ProSp-ELQY 電致發(fā)光量子效率測試系統(tǒng)模塊化設備搭建,適用于手套箱內安裝,對于制備的材料,可進行快速原位量子效率測試,使用更方便系統(tǒng)性能參數(shù)?測試范圍(依配置決定):亮度:0.01–2*106nit通量:5*10-6–300lm350-1100nm-輻射亮度:0.02-2*106mW/Sr/m2輻射通量:1*10-5–650mW900-1700nm-輻射亮度:300-6*108mW/Sr/m2輻射通量:0.02–3.5*104mW?亮度重復性:>98%?主波長重復性:0.5nm?光致量子效率測試結果重復性:5%注:以上測試樣品為標準朗伯體測試結果。模塊化設計:系統(tǒng)采用模塊化集成設計,用戶可以根據(jù)需求選擇不同的光譜儀、激光器等組件,并且可以擴展。
低溫度漂移溫度漂移:專譜光電的激光器系統(tǒng)具有低溫度漂移特性(<0.007 nm/°C),這對于需要在不同環(huán)境溫度下工作的實驗非常有利。5. 高邊模抑制比邊模抑制比:激光器的邊模抑制比優(yōu)于 40 dB(60 dB 可選),這有助于減少光譜中的雜散信號,提高測量的準確性。6. 操作便捷性操作便捷:激光器系統(tǒng)設計簡潔,操作方便,包含上位機控制、急停開關、短接保護等功能,確保實驗的安全性和便捷性。7. 多種波長選擇波長選擇:專譜光電提供多種波長的激光器,如 532 nm、785 nm 和 1064 nm,適用于不同的應用需求。激光器輸出光的中心波長,決定了激光器的應用范圍。例如,專譜的785 激光器的中心波長為 785±0.5 nm。中國臺灣360-2500 nm鎢燈專譜光電測量系統(tǒng)
顯微熒光測量:可以測量樣品在特定激發(fā)波長下的熒光發(fā)射光譜。海南透射測量專譜光電測量系統(tǒng)
ProSp 角分辨測試系統(tǒng)(ProSp-RTM-UV/VIS)是一款高性能的全角度光譜測量系統(tǒng),廣泛應用于材料科學、微納光學、生物技術和礦物分析等領域。以下是其主要功能和應用:功能描述全角度測量:接收端角度范圍:0-360°發(fā)射端角度范圍:0-270°高角度分辨率:角度分辨率可達 0.01°全光譜測量:光譜范圍:250-2500 nm多種測量模式:上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種測量模式自動測量模式:通過軟件設置測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時間等參數(shù),實現(xiàn)不同模式的自動測量手動測量模式:可以任意控制樣品臺的入射角和接收角進行光譜測量海南透射測量專譜光電測量系統(tǒng)