鎖相紅外熱成像系統(tǒng)運動

電激勵下的鎖相熱成像系統(tǒng)為電子產(chǎn)業(yè)的 PCB 板檢測提供了強有力的技術支持，尤其適用于高密度、高精度 PCB 板的質(zhì)量檢測。PCB 板作為電子設備的 “血管”，其線路密集且復雜，在生產(chǎn)過程中容易出現(xiàn)線路斷路、過孔堵塞、銅箔起皮等缺陷。這些缺陷若未被及時發(fā)現(xiàn)，會導致電子設備工作異常甚至故障。

通過對 PCB 板施加周期性的電激勵，電流會沿著線路流動，缺陷區(qū)域由于導電性能下降，會產(chǎn)生異常的焦耳熱，導致局部溫度升高。鎖相熱成像系統(tǒng)可通過快速掃描整板，捕捉到這些溫度異常區(qū)域，并通過圖像處理技術，定位缺陷的位置和范圍。與傳統(tǒng)的人工目檢或測試相比，該系統(tǒng)的檢測效率提升了數(shù)倍，而且能夠檢測出人工難以發(fā)現(xiàn)的細微缺陷。例如，在檢測手機主板這類高密度 PCB 板時，系統(tǒng)可在 10 分鐘內(nèi)完成整板檢測，并生成詳細的缺陷報告，為生產(chǎn)人員提供精確的修復依據(jù)，極大地助力了電子制造業(yè)提高生產(chǎn)效率。 鎖相熱成像系統(tǒng)優(yōu)化電激勵檢測的圖像處理。鎖相紅外熱成像系統(tǒng)運動

在當今科技飛速發(fā)展的時代，電子設備的性能與可靠性至關重要。從微小的芯片到復雜的電路板，任何一個環(huán)節(jié)出現(xiàn)故障都可能導致整個系統(tǒng)的崩潰。在這樣的背景下，蘇州致晟光電科技有限公司自主研發(fā)的實時瞬態(tài)鎖相熱分析系統(tǒng)（RTTLIT）應運而生，猶如一顆璀璨的明星，為電子行業(yè)的失效分析領域帶來了全新的解決方案。

致晟光電成立于 2024 年，總部位于江蘇蘇州，公司秉持著 “需求為本、科技創(chuàng)新” 的理念，專注于電子產(chǎn)品失效分析儀器設備的研發(fā)與制造。 紅外光譜鎖相紅外熱成像系統(tǒng)用途電激勵模式靈活，適配鎖相熱成像系統(tǒng)多行業(yè)應用。

RTTLIT 系統(tǒng)采用了先進的鎖相熱成像（Lock-In Thermography）技術，這是一種通過調(diào)制電信號來大幅提升特征分辨率與檢測靈敏度的創(chuàng)新方法。在傳統(tǒng)的熱成像檢測中，由于背景噪聲和熱擴散等因素的影響，往往難以精確檢測到微小的熱異常。而鎖相熱成像技術通過對目標物體施加特定頻率的電激勵，使目標物體產(chǎn)生與激勵頻率相同的熱響應，然后通過鎖相放大器對熱響應信號進行解調(diào)，只提取與激勵頻率相關的熱信號，從而有效地抑制了背景噪聲，極大地提高了檢測的靈敏度和分辨率。

在電子行業(yè)，鎖相熱成像系統(tǒng)為芯片檢測帶來了巨大的變革。芯片結構精密復雜，傳統(tǒng)的檢測方法不僅效率低下，還可能對芯片造成損傷。而鎖相熱成像系統(tǒng)通過對芯片施加周期性的電激勵，使芯片內(nèi)部因故障產(chǎn)生的微小溫度變化得以顯現(xiàn)，系統(tǒng)能夠敏銳捕捉到這些變化，進而定位電路中的短路、虛焊等故障點。其非接觸式的檢測方式，從根本上避免了對精密電子元件的損傷，同時提升了芯片質(zhì)檢的效率與準確性。在芯片生產(chǎn)的大規(guī)模質(zhì)檢中，它能夠快速篩選出不合格產(chǎn)品，為電子行業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展提供了有力支持。利用鎖相放大器或相關算法，將熱像序列中每個像素的溫度信號與激勵參考信號進行相關運算得到振幅與相位。

鎖相熱成像系統(tǒng)憑借電激勵在電子產(chǎn)業(yè)的芯片封裝檢測中表現(xiàn)出的性能，成為芯片制造過程中不可或缺的質(zhì)量控制手段。芯片封裝是保護芯片、實現(xiàn)電氣連接的關鍵環(huán)節(jié)，在封裝過程中，可能會出現(xiàn)焊球空洞、引線鍵合不良、封裝體開裂等多種缺陷。這些缺陷會嚴重影響芯片的散熱性能和電氣連接可靠性，導致芯片在工作過程中因過熱而失效。通過對芯片施加特定的電激勵，使芯片內(nèi)部產(chǎn)生熱量，缺陷處由于熱傳導受阻，會形成局部高溫區(qū)域。鎖相熱成像系統(tǒng)能夠?qū)崟r捕捉芯片表面的溫度場分布，并通過分析溫度場的相位和振幅變化，生成清晰的缺陷圖像，精確顯示出缺陷的位置、大小和形態(tài)。例如，在檢測 BGA 封裝芯片時，系統(tǒng)能準確識別出焊球中的空洞，即使空洞體積占焊球體積的 5%，也能被定位。這一技術的應用，幫助芯片制造企業(yè)及時發(fā)現(xiàn)封裝過程中的問題，有效降低了產(chǎn)品的不良率，提升了芯片產(chǎn)品的質(zhì)量?？焖俣ㄎ幌啾绕渌麢z測技術，鎖相熱成像技術能夠在短時間內(nèi)快速定位熱點，縮短失效分析時間。國產(chǎn)平替鎖相紅外熱成像系統(tǒng)測試

鎖相熱成像系統(tǒng)提升電激勵檢測的抗干擾能力。鎖相紅外熱成像系統(tǒng)運動

蘇州致晟光電科技有限公司自主研發(fā)的RTTLIT （實時瞬態(tài)鎖相熱分析系統(tǒng)），該技術的溫度靈敏度極高，部分型號甚至可達 0.0001℃，功率檢測限低至 1μW。這意味著它能夠捕捉到極其微弱的熱信號變化，哪怕是芯片內(nèi)部極為微小的漏電或局部發(fā)熱缺陷都難以遁形。這種高靈敏度檢測能力在半導體器件、晶圓、集成電路等對精度要求極高的領域中具有無可比擬的優(yōu)勢，能夠幫助工程師快速、準確地定位故障點，較大程度上的縮短了產(chǎn)品研發(fā)和故障排查的時間。鎖相紅外熱成像系統(tǒng)運動