MARPOSS提供電池生產(chǎn)過程中所有階段的泄漏測試和漏點探測解決方案,單個電芯的真空箱氦檢,電池包組件(如冷卻管&冷卻板)的氦氣泄漏和漏點探測解決方案,在組裝完成后,通過壓降法/流量法或示蹤氣體測試法,對大體積模組、電池包和外殼(包括電氣元件)進行泄漏測試。在進行電池托盤,蓋板和電池包的泄漏測試的過程中,安裝完成的電池模組裝到電池外殼內(nèi),并檢測泄漏(漏率在10-3scc/s范圍內(nèi))。當采用水/乙醇混合物作為冷卻劑時泄漏率在10-3scc/s范圍內(nèi),而采用氣體作為冷卻劑時泄漏率在10-5scc/s范圍內(nèi)。e.d.c.的優(yōu)勢依賴于局部放電測試的高度專業(yè)化。設備檢測品牌
馬波斯(半)自動測量系統(tǒng)Visiquick馬波斯半自動測量系統(tǒng)基于接觸或光學技術。被測容器采用人工裝卸,測量周期自動進行?;诠鈱W技術的系統(tǒng)柔性很高,可以測量許多不同的物品,無論其大小、形狀和顏色,且無需任何操作調(diào)整。2.而在馬波斯自動測量系統(tǒng)中,玻璃容器的裝卸和測量操作可完全自動進行,無需任何人為干預。它們主要基于非接觸式技術,除了外形尺寸外,還可以測量其他特征,如口內(nèi)徑和輪廓、壁厚、重量、瓶底高度、貼標區(qū)域輪廓等。與半自動測量系統(tǒng)相比,自動測量系統(tǒng)的優(yōu)勢在于***降低人力成本。使用半自動和自動測量系統(tǒng)執(zhí)行的測量結果被發(fā)送到MES(制造執(zhí)行軟件),并被決策者用于實時微調(diào)和監(jiān)控制造過程。軸承幾何檢測E.D.C.自1998年以來開發(fā)的用于局部放電絕緣測試的方法基于電容耦合技術。
然后,在真空箱內(nèi)同時檢測一個批次12只電芯,檢測周期*需9秒鐘。如檢測發(fā)現(xiàn)不合格,則表示12只電芯全部判定不合格,這時可將該批次電芯同時放在另一臺離線測臺上做單獨檢測,以準確識別出報廢的電芯。優(yōu)勢l適用范圍廣,適用于所有類型的電芯泄漏檢測(紐扣,圓柱、方形或軟包)l可在注液和密封后的任何工藝階段檢測l可用于不同類型的電解液檢測l可輕松在生產(chǎn)線中實現(xiàn)檢測自動化l無需為檢漏而另外添加示蹤氣體l不影響整線生產(chǎn)節(jié)拍l檢測速度快
Optoquick讓操作變得更高效。Optoquick減少了生產(chǎn)過程中,浪費在零件驗證上的時間。Optoquick的操作不但快速,而且可將它直接安裝在生產(chǎn)機床旁,消除了昂貴的工件物流成本。使用Optoquick提高了生產(chǎn)率,并可對生產(chǎn)高峰進行管理。因此,可在數(shù)月之內(nèi)獲取投資回報。除此之外,還可以提高生產(chǎn)質(zhì)量水平。Optoquick在生產(chǎn)機床旁安裝,從而可更加頻繁進行工件的測量驗證與確認。因此,Optoquick可提升質(zhì)量保障,在一定程度減少廢件的生產(chǎn)。渦流探測(EC)是一系列無損技術(NDT),用于檢查被測組件的表面質(zhì)量和材料特性。
在半導體的生產(chǎn)環(huán)節(jié)中,圓晶減薄是其中一個關鍵的生產(chǎn)環(huán)節(jié)。實際上,由于芯片已在圓晶上成形,減薄操作的任何失誤都可能影響芯片成品率和成本。在減薄加工中,可用接觸式或非接觸式傳感器測量,甚至可在去離子水中測量,進行嚴格在線控制。馬波斯傳感器甚至可檢測到砂輪與圓晶接觸的瞬間或檢查任何過載。另外,馬波斯傳感器可控制的厚度從4μm到900μm(單側測量),智能處理厚度數(shù)據(jù),可正??刂瞥『穸群陀涗洈?shù)據(jù)(黑盒功能)。局部放電絕緣測試是一種更復雜的技術,對外部電磁干擾不敏感,因此更適合在生產(chǎn)環(huán)境中使用。氦質(zhì)譜檢漏儀
光學測量方案可集成用于hairpin端子的測量和檢查,hairpin焊接工藝之前或之后皆適用。設備檢測品牌
電機及其組件的質(zhì)量保證一代電機面臨的挑戰(zhàn)是如優(yōu)化部件生產(chǎn)和組裝的效率、質(zhì)量和成本。電機技術在全球范圍內(nèi)的空前增長,特別是在汽車領域,使制造商和終用戶對組件可靠性產(chǎn)生了全新的認知。這一新趨勢對生產(chǎn)鏈的質(zhì)量控制和過程控制提出了新的要求。因此,汽車行業(yè)越來越重視電機的可靠性,并開始轉(zhuǎn)向生產(chǎn)更高質(zhì)量的零部件和總成。Marposs開發(fā)一整套方案,致力于電動車電機及其組件的過程控制、在線和離線質(zhì)量檢測。MARPOSS是一如既往的合作伙伴迎接新的電動汽車挑戰(zhàn)。設備檢測品牌